特許
J-GLOBAL ID:200903045665038881

3-5族化合物半導体用電極の製造方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 久保山 隆 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平7-150311
公開番号(公開出願番号):特開平9-008356
出願日: 1995年06月16日
公開日(公表日): 1997年01月10日
要約:
【要約】 (修正有)【目的】ドライエッチングを行なった際のエッチングダメージを回復させ、電流注入特性が優れた3-5族化合物半導体用電極を製造する。【構成】3-5族化合物半導体をドライエッチングし、次に不活性雰囲気中で400°C以上で熱処理し、次に電極を形成する工程を有する3-5族化合物半導体用電極の製造方法。3-5族化合物半導体をドライエッチングし、次にリン酸と硫酸とを含む溶液にて処理し、次に電極を形成する工程を有する3-5族化合物半導体用電極の製造方法。ドライエッチングが、稀ガス、ハロゲン元素を含む分子又はこれらの混合ガスを用いる。
請求項(抜粋):
一般式Inx Gay Alz N(ただし、x+y+z=1、0≦x≦1、0≦y≦1、0≦z≦1)で表される3-5族化合物半導体に用いる電極の製造方法において、該3-5族化合物半導体をドライエッチングし、次に不活性雰囲気中で400°C以上で熱処理し、次に電極を形成する工程を有することを特徴とする3-5族化合物半導体用電極の製造方法。
IPC (5件):
H01L 33/00 ,  H01L 21/28 301 ,  H01L 21/3065 ,  H01L 21/304 341 ,  H01S 3/18
FI (6件):
H01L 33/00 E ,  H01L 21/28 301 H ,  H01L 21/304 341 D ,  H01S 3/18 ,  H01L 21/302 F ,  H01L 21/302 N
引用特許:
審査官引用 (7件)
全件表示

前のページに戻る