特許
J-GLOBAL ID:200903046280395981
圧電薄膜素子
発明者:
,
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
沖川 寛
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2008-306576
公開番号(公開出願番号):特開2009-200469
出願日: 2008年12月01日
公開日(公表日): 2009年09月03日
要約:
【課題】ジャイロセンサなどに適用可能な性能を持つ、シリコン基板上にKNN薄膜を形成した圧電薄膜素子を提供する。【解決手段】シリコン基板1上に下部電極2と、圧電薄膜3と、上部電極4とを有する圧電薄膜素子10において、圧電薄膜3が一般式(K1-xNax)NbO3(0<x<1)で表されるアルカリニオブ酸化物系ペロブスカイト構造の薄膜で形成されると共に、圧電薄膜3の圧電定数d31の印加電界依存性を示す|圧電定数d31(印加電界70kV/cm時)-圧電定数d31(印加電界7kV/cm時)|/|圧電定数d31(印加電界70kV/cm時)|の値が0.20以下である。【選択図】図1
請求項(抜粋):
シリコン基板上に下部電極と、圧電薄膜と、上部電極とを有する圧電薄膜素子において、前記圧電薄膜が一般式(K1-xNax)NbO3(0<x<1)で表されるアルカリニオブ酸化物系ペロブスカイト構造の薄膜で形成されると共に、
前記圧電薄膜の圧電定数d31の印加電界依存性を示す|圧電定数d31(印加電界70kV/cm時)-圧電定数d31(印加電界7kV/cm時)|/|圧電定数d31(印加電界70kV/cm時)|の値が0.20以下であることを特徴とする圧電薄膜素子。
IPC (8件):
H01L 41/08
, H01L 41/18
, H01L 41/22
, H01L 41/24
, H01L 41/09
, G01P 9/04
, H01L 21/316
, G01P 3/44
FI (10件):
H01L41/08 Z
, H01L41/18 101Z
, H01L41/08 D
, H01L41/22 Z
, H01L41/22 A
, H01L41/08 C
, H01L41/08 L
, G01P9/04
, H01L21/316 Y
, G01P3/44 Z
Fターム (9件):
2F105BB02
, 2F105BB13
, 2F105BB14
, 2F105CC06
, 2F105CD02
, 2F105CD06
, 5F058BC03
, 5F058BF12
, 5F058BJ04
引用特許: