特許
J-GLOBAL ID:200903046616109699
III族窒化物結晶の成長方法、III族窒化物結晶基板および半導体デバイス
発明者:
,
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出願人/特許権者:
代理人 (6件):
深見 久郎
, 森田 俊雄
, 仲村 義平
, 堀井 豊
, 野田 久登
, 酒井 將行
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2005-149690
公開番号(公開出願番号):特開2006-016294
出願日: 2005年05月23日
公開日(公表日): 2006年01月19日
要約:
【課題】 不純物が少なく、かつ、転位密度が低く結晶性のよいIII族窒化物結晶の成長方法、III族窒化物結晶基板およびIII族窒化物結晶基板を含む半導体デバイスを提供する。【解決手段】 昇華法により成長させたAlN種結晶1を用いて、HVPE法によりIII族窒化物結晶2を成長させるIII族窒化物結晶の成長方法。ここで、上記成長方法により得られたIII族窒化物結晶の一部を種結晶として用いて、HVPE法によりIII族窒化物結晶を成長させることもできる。【選択図】 図1
請求項(抜粋):
昇華法により成長させたAlN種結晶を用いて、HVPE法によりIII族窒化物結晶を成長させるIII族窒化物結晶の成長方法。
IPC (3件):
C30B 29/38
, C23C 16/34
, C30B 25/18
FI (3件):
C30B29/38 D
, C23C16/34
, C30B25/18
Fターム (20件):
4G077AA02
, 4G077AB01
, 4G077BE13
, 4G077BE15
, 4G077DB05
, 4G077ED01
, 4G077HA02
, 4G077HA06
, 4G077HA12
, 4G077TA01
, 4G077TB04
, 4G077TK01
, 4G077TK13
, 4K030AA03
, 4K030AA13
, 4K030BA38
, 4K030BB02
, 4K030CA04
, 4K030FA10
, 4K030LA14
引用特許:
引用文献:
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