特許
J-GLOBAL ID：200903046665917806

空間符号化法による3次元計測方法および装置

発明者：
三高 良介

三高 良介 について


出願人/特許権者：
パナソニック電工株式会社

パナソニック電工株式会社 について


代理人 (2件)： 西川 惠清 ,  森 厚夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2007-141091
公開番号（公開出願番号）：特開2008-292432
出願日： 2007年05月28日
公開日（公表日）： 2008年12月04日
要約：
【課題】対象物の表面に光パターンを投影することにより付与した空間符号を誤りなく抽出することを可能にし、しかも少数の光パターンによって高い空間分解能を得る。【解決手段】対象物の表面に投影手段11により複数種類の光パターンを規定の順で投影し、投影方向とは異なる方向から光パターンの投影毎に撮像手段12により対象物の表面を撮像する。画像処理装置10は、撮像手段12により得た濃淡画像内で光パターンの各領域に対応する画素の位置を求め3次元形状を計測する。投影手段11が投影する光パターンは、複数の縞状の領域に分割され、全領域においてそれぞれ選択されるすべての強度レベルが1回ずつ出現するという条件と、各領域ごとに強度レベルの変化順序が異なるという条件とを満たすように規定した順序で対象物の表面に投影される。符号付与部15は、画素の明度の変化順序と明度の大小関係とから画素ごとの空間符号を抽出する。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
対象物の表面に光パターンを投影し、投影方向とは異なる方向から対象物の表面を撮像して得られる画像内で光パターンの各領域に対応する画素の位置を求め三角測量法の原理を用いることにより対象物の表面の3次元形状を計測する3次元計測方法であって、光パターンは複数の領域に分割され各領域の光の強度を3以上の複数段階から選択して形成してあり、光の強度の大小の順序で各段階を強度レベルとして規定し、複数種類の光パターンを、光パターンの全領域においてそれぞれ選択されるすべての強度レベルが1回ずつ出現するという条件と、各領域ごとに強度レベルの変化順序が異なるという条件とを満たすように規定した順序で対象物の表面に投影することにより、対象物の表面に強度レベルの変化順による空間符号を付与し、さらに、各光パターンの投影毎の濃淡画像を撮像し、撮像毎の濃淡画像内の同画素における明度の変化順序と明度の大小関係とから各画素ごとの強度レベルの変化順序を抽出し、濃淡画像により得られた変化順序と光パターンの投影順序に対応した各領域の強度レベルの変化順序とを照合することにより、濃淡画像における各画素ごとの空間符号を抽出し、濃淡画像の各画素に光パターンの各領域を対応付けることを特徴とする空間符号化法による3次元計測方法。
IPC (1件)：
G01B 11/25
FI (1件)：
G01B11/25 H
Fターム (18件)：
2F065AA53 ,  2F065BB05 ,  2F065DD03 ,  2F065EE00 ,  2F065FF01 ,  2F065FF02 ,  2F065FF06 ,  2F065FF09 ,  2F065HH07 ,  2F065HH12 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ09 ,  2F065JJ26 ,  2F065PP12 ,  2F065QQ06 ,  2F065QQ08 ,  2F065QQ24 ,  2F065QQ26
引用特許：
出願人引用 (5件)
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審査官引用 (4件)
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