特許
J-GLOBAL ID:200903046702712632

微粒子の計測方法及び計測装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (5件): 奥山 尚一 ,  有原 幸一 ,  松島 鉄男 ,  河村 英文 ,  岡本 正之
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2005-220005
公開番号(公開出願番号):特開2007-033354
出願日: 2005年07月29日
公開日(公表日): 2007年02月08日
要約:
【課題】 高測定精度又は高検出精度で微粒子を計測することを可能とする微粒子の計測方法及び微粒子の計測装置を提供する。【解決手段】 測定対象の微粒子を蛍光色素により標識し、蛍光微粒子計測部3で散乱光を計測することによって微粒子を計測し、かつ標識した微粒子を含む測定試料を循環させ、繰り返し測定するようにした。【選択図】 図1
請求項(抜粋):
水中の微粒子を計測するための微粒子の計測方法であって、測定対象の微粒子を蛍光色素により標識し、蛍光微粒子計測部で微粒子を計測し、かつ標識した微粒子を含む測定試料を循環させ、繰り返し測定することを特徴とする微粒子の計測方法。
IPC (4件):
G01N 15/06 ,  C12M 1/34 ,  C12Q 1/06 ,  G01N 21/64
FI (5件):
G01N15/06 C ,  G01N15/06 E ,  C12M1/34 D ,  C12Q1/06 ,  G01N21/64 F
Fターム (22件):
2G043BA17 ,  2G043CA04 ,  2G043DA01 ,  2G043DA05 ,  2G043EA01 ,  2G043GA07 ,  2G043GB21 ,  4B029AA07 ,  4B029BB01 ,  4B029CC01 ,  4B029FA03 ,  4B029FA04 ,  4B029FA10 ,  4B029FA11 ,  4B063QA01 ,  4B063QA18 ,  4B063QQ05 ,  4B063QR48 ,  4B063QR56 ,  4B063QS03 ,  4B063QS33 ,  4B063QX02
引用特許:
出願人引用 (1件) 審査官引用 (5件)
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