特許
J-GLOBAL ID：200903047186306726
放射線検出器の検査方法および装置並びに放射線断層撮影装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
井島 藤治 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-353967
公開番号（公開出願番号）：特開平11-183628
出願日： 1997年12月24日
公開日（公表日）： 1999年07月09日
要約：
【要約】【課題】 放射線検出器を利用装置に搭載したままで放射線検出素子の劣化を検査する検査方法および装置、並びに、そのような検査装置を備えた放射線断層撮影装置を実現する。【解決手段】 放射線検出器24に照射する放射線ビーム40をその厚みの方向に移動させて放射線検出素子24の感度プロファイルを測定し、それに基づいて放射線検出素子の劣化を判定する。
請求項（抜粋）：
照射方向に垂直でかつ互いに垂直な2つの方向の一方では相対的に大きな寸法の幅を持ち他方では相対的に小さな寸法の厚みを持つ放射線ビームの厚みの方向において前記放射線ビームの厚みよりも大きな長さを持つ複数の放射線検出素子を、前記放射線ビームの幅の方向に配列した放射線検出器の検査方法であって、前記放射線検出器に照射する前記放射線ビームをその厚みの方向に移動させて前記複数の放射線検出素子の感度プロファイルを測定し、前記測定した感度プロファイルに基づいて各放射線検出素子の劣化を検査する、ことを特徴とする放射線検出器の検査方法。
IPC (3件)：
G01T 7/00
, A61B 6/03 320
, G01T 1/20
G01T 7/00 C
, A61B 6/03 320 P
, G01T 1/20 G
