特許
J-GLOBAL ID:200903051073904527
半導体記憶装置
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (2件):
伊丹 勝
, 田村 和彦
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2006-334285
公開番号(公開出願番号):特開2008-146772
出願日: 2006年12月12日
公開日(公表日): 2008年06月26日
要約:
【課題】高精度の内部電圧発生回路を備えた半導体記憶装置を提供する。【解決手段】内部電圧発生回路を備えた半導体記憶装置において、前記内部電圧発生回路は、電荷転送動作により電源電圧を昇圧するポンプ回路と、このポンプ回路の出力電圧を検出する電圧検出回路と、前記電圧検出回路の出力に応じて前記ポンプ回路を制御する第1のポンプ制御回路と、前記ポンプ回路の出力電圧が所定範囲内にあるときに前記第1のポンプ制御回路に代わって前記ポンプ回路を制御する第2のポンプ制御回路とを有する。【選択図】図6
請求項(抜粋):
内部電圧発生回路を備えた半導体記憶装置において、
前記内部電圧発生回路は、
電荷転送動作により電源電圧を昇圧するポンプ回路と、
このポンプ回路の出力電圧を検出する電圧検出回路と、
前記電圧検出回路の出力に応じて前記ポンプ回路を制御する第1のポンプ制御回路と、
前記ポンプ回路の出力電圧が所定範囲内にあるときに前記第1のポンプ制御回路に代わって前記ポンプ回路を制御する第2のポンプ制御回路と、
を有することを特徴とする半導体記憶装置。
IPC (5件):
G11C 16/06
, G11C 16/02
, G06F 1/28
, H01L 21/822
, H01L 27/04
FI (4件):
G11C17/00 632A
, G11C17/00 641
, G06F1/00 333D
, H01L27/04 G
Fターム (22件):
5B011EB01
, 5B011GG03
, 5B125BA02
, 5B125BA19
, 5B125CA11
, 5B125DB12
, 5B125DB19
, 5B125EA05
, 5B125EG05
, 5B125EG08
, 5B125EH02
, 5B125FA02
, 5B125FA05
, 5F038BB05
, 5F038BG02
, 5F038BG03
, 5F038BG04
, 5F038BG05
, 5F038BG06
, 5F038BG08
, 5F038DF05
, 5F038EZ20
引用特許:
出願人引用 (2件)
審査官引用 (5件)
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半導体装置および半導体装置の駆動方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願2003-429147
出願人:株式会社東芝
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半導体装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2003-348505
出願人:株式会社ルネサステクノロジ
-
昇圧回路
公報種別:公開公報
出願番号:特願2000-331880
出願人:松下電器産業株式会社
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