特許
J-GLOBAL ID:200903055126264415
不具合原因究明システム
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (2件):
河宮 治
, 田代 攻治
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2004-187669
公開番号(公開出願番号):特開2006-013120
出願日: 2004年06月25日
公開日(公表日): 2006年01月12日
要約:
【課題】 複数の製品を連続して加工する際に発生する不具合の発生原因を安価な装置を用いて効率的に究明可能とするシステム、及び方法を提供する。【解決手段】 加工動作を高速度撮影して得られた連続画像を一時的に保存し、加工後の製品を撮像して予め認識されている良品の画像と前記撮像画像とを比較して不具合の有無を判断し、不具合が見つかれば前記一時的に保存した連続画像を継続保存して不具合原因の究明に供し、不具合が見つからない場合は前記連続画像を消去可能とし、これにより限られた記憶容量で継続して連続画像の取得を可能にする。加工時の画像を状態撮影カメラ21で取得し、加工後の画像を検査カメラ23で取得し、コントローラ25が不具合有無の判断と、画像の保存又は消去の判断と、全体の制御とを行う。【選択図】図1
請求項(抜粋):
複数個の製品を連続して加工する際の不具合発生原因を究明する方法であって、
各製品の加工時における動作の連続画像を取得して一時的に保存し、
加工後の前記製品の不具合の有無を検査し、
前記検査で不具合が見つからない製品に係る前記一時的に保存された連続画像は消去可能とし、
前記検査で不具合が見つかった製品に係る前記一時的に保存された連続画像は継続保存して不具合原因究明に供し、
前記消去可能となった記憶容量を以降の製品に係る連続画像の取得に利用することによって限定された記憶容量を備えながら連続して加工される複数個の製品の各連続画像を継続して取得可能としたことを特徴とする不具合原因究明方法。
IPC (1件):
FI (3件):
H05K13/08 Q
, H05K13/08 A
, H05K13/08 D
引用特許:
出願人引用 (2件)
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プラント警報処理支援システム
公報種別:公開公報
出願番号:特願平9-250836
出願人:東芝エンジニアリング株式会社
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3次元物体の自動検査装置および方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願平5-241371
出願人:川崎重工業株式会社, 日揮株式会社, 株式会社クボタ, シャープ株式会社, 株式会社新潟鉄工所, ホンダエンジニアリング株式会社, 日産自動車株式会社
審査官引用 (6件)
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部品装着方法及び装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2000-297893
出願人:松下電器産業株式会社
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部品実装機の検査方法および装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2002-031585
出願人:松下電器産業株式会社
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特開平2-129537
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