光波長測定装置

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：西村教光 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-402120
公開番号（公開出願番号）：特開2002-202203
出願日： 2000年12月28日
公開日（公表日）： 2002年07月19日
要約：

【要約】【課題】移動鏡を移動することなく、入力光波長をリアルタイムに測定する。【解決手段】入力光を二つに分波し再び合波する二光束干渉計1を備えた光波長測定装置であり、合波偏波状態から、被測定光波長を測定する。

請求項（抜粋）：

入力光を二つに分波し、この分波された光を再び合波して出力する二光束干渉計を備えた光波長測定装置において、前記二光束干渉計が、分波されてから合波されるまでの二光束間の光路の差が固定されており、且つ、少なくとも1つ以上の出力光が互いに異なる偏波状態を有する二光束の合波光であることを特徴とし、更に、前記合波光の偏波状態を検出する偏波状態検出手段を備え、前記偏波状態から、前記入力光の波長を測定する光波長測定装置。

IPC (3件)：

G01J 9/02 , G01B 9/02 , G01J 4/04

FI (3件)：

G01J 9/02 , G01B 9/02 , G01J 4/04 Z

Fターム (9件)：

2F064AA00 , 2F064EE01 , 2F064FF01 , 2F064GG13 , 2F064GG22 , 2F064GG23 , 2F064GG33 , 2F064GG38 , 2F064HH06

引用特許：

審査官引用 (6件)

光波長計
公報種別：公開公報出願番号：特願平6-261745 出願人：安藤電気株式会社
特開平4-168330
偏光干渉計
公報種別：公開公報出願番号：特願平9-016169 出願人：株式会社島津製作所

全件表示

前のページに戻る