パターン発生器、パターン発生方法及び試験装置

発明者： ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：龍華明裕
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-320382
公開番号（公開出願番号）：特開2001-194431
出願日： 1999年11月10日
公開日（公表日）： 2001年07月19日
要約：

【要約】【課題】試験パターンを高速に生成することのできるパターン発生器を提供すること。【解決手段】電気部品の電気的試験に用いる試験パターンを生成するパターン発生器において、前記試験パターンはメイン試験パターンと、当該メイン試験パターンの間に繰り返し挿入されるサブ試験パターンとを有しており、前記メイン試験パターン及び前記サブ試験パターンを格納するパターンメモリ32と、前記パターンメモリ32から読み出された前記メイン試験パターンを格納するメイン試験パターンキャッシュメモリ50と、前記パターンメモリ32から読み出された前記サブ試験パターンを格納するサブ試験パターンキャッシュメモリ52とを備えたことを特徴とするパターン発生器を提供する。

請求項（抜粋）：

電気部品の電気的試験に用いる試験パターンを生成するパターン発生器において、前記試験パターンを格納するパターンメモリと、前記パターンメモリから読み出された前記試験パターンを格納するパターンキャッシュメモリと、生成すべき前記試験パターンの順序を示すベクトル命令を格納するベクトルメモリと、前記ベクトルメモリから読み出された前記ベクトル命令を用いて、前記パターンメモリから読み出すべき前記試験パターンのアドレスがジャンプするか否かを判断する読み出し制御部と、前記アドレスがジャンプすると前記読み出し制御部が判断した場合に、前記パターンメモリにおけるジャンプ先のアドレスから前記試験パターンを読み出して前記パターンキャッシュメモリに転送する転送制御部とを備えたことを特徴とするパターン発生器。

Fターム (7件)：

2G032AA07 , 2G032AC03 , 2G032AD05 , 2G032AE08 , 2G032AE12 , 2G032AF10 , 2G032AG02

引用特許：

出願人引用 (11件)

特開昭54-066061
特開昭57-075026
特開昭61-201172

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審査官引用 (11件)

IC試験装置のパターン発生装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平7-349679 出願人：日立電子エンジニアリング株式会社
特開昭54-066061
特開平1-193894

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