特許
J-GLOBAL ID：200903058535633936

光断層画像化装置

発明者：
藤田 寛

藤田 寛 について


出願人/特許権者：
フジノン株式会社

フジノン株式会社 について


代理人 (3件)： 柳田 征史 ,  佐久間 剛 ,  本澤 大樹
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2005-031138
公開番号（公開出願番号）：特開2006-215005
出願日： 2005年02月07日
公開日（公表日）： 2006年08月17日
要約：
【課題】 光コヒーレンストモグラフィー計測において、複数のプローブを取り替えて使用する場合であっても、各プローブの長さのばらつきによる測定範囲の変動を防止する。 【解決手段】 光断層画像化装置1において、測定対象Sの深さ方向へ測定位置を変更するために参照光L2の光路長を変更する第1光路長変更手段50とともに、本体1Aに取り付けられたプローブ10の長さの誤差を補正するために、交換可能なプローブ10の取付時に第1光路長変更手段50での光路長の変更による測定可能領域MRが予め設定された設定測定領域MRrefになるように、参照光の光路長を変更する第2光路長変更手段と60を備える。【選択図】 図2
請求項（抜粋）：
測定対象の光断層画像を取得する本体に、測定光を測定対象まで導波するプローブを着脱可能に取り付けて測定を行う光断層画像化装置であって、 前記本体が、 低コヒーレンス光を射出する光源と、 該光源から射出された前記低コヒーレンス光を測定光と参照光とに分割する光分割手段と、 前記光分割手段により分割された前記参照光の光路長を変更する光路長変更手段と、 前記プローブから前記測定光が前記測定対象に照射されたときの該測定対象からの反射光と、前記光路長変更手段により光路長が変更された前記参照光とを合波する合波手段と、 該合波手段により合波された前記反射光と前記参照光との干渉光を検出する干渉光検出手段と を有するものであり、 前記光路長変更手段が、 前記測定対象内の測定位置を深さ方向に変化させるために、前記参照光の光路長を変える第1光路長変更手段と、 前記本体に取り付けられた前記プローブの長さの誤差を補正するために、該プローブの取付時に前記第1光路長変更手段での前記光路長の変化により測定が可能となる領域が予め設定された設定測定領域になるように、前記参照光の光路長を変更する第2光路長変更手段と を備えたものであることを特徴とする光断層画像化装置。
IPC (4件)：
G01N 21/17 ,  A61B 1/00 ,  A61B 10/00 ,  G01B 11/24
FI (4件)：
G01N21/17 630 ,  A61B1/00 300D ,  A61B10/00 E ,  G01B11/24 D
Fターム (44件)：
2F065AA22 ,  2F065AA52 ,  2F065BB05 ,  2F065CC16 ,  2F065FF51 ,  2F065GG06 ,  2F065GG24 ,  2F065HH04 ,  2F065HH18 ,  2F065LL00 ,  2F065LL02 ,  2F065LL10 ,  2F065LL13 ,  2F065LL65 ,  2F065MM16 ,  2G059AA05 ,  2G059AA06 ,  2G059BB12 ,  2G059BB14 ,  2G059CC16 ,  2G059EE02 ,  2G059EE09 ,  2G059FF01 ,  2G059FF08 ,  2G059FF09 ,  2G059GG01 ,  2G059GG08 ,  2G059GG10 ,  2G059JJ11 ,  2G059JJ12 ,  2G059JJ13 ,  2G059JJ15 ,  2G059JJ17 ,  2G059JJ22 ,  2G059KK04 ,  2G059LL01 ,  2G059MM10 ,  4C061AA00 ,  4C061BB00 ,  4C061CC06 ,  4C061DD03 ,  4C061FF40 ,  4C061HH51 ,  4C061JJ11
引用特許：
出願人引用 (1件)
  • 内視鏡装置
    公報種別：公開公報   出願番号：特願2001-320408   出願人：富士写真フイルム株式会社
審査官引用 (5件)
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