特許
J-GLOBAL ID:200903058716995368
パターン転写装置、インプリント装置、パターン転写方法および位置合わせ方法
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (1件):
長尾 達也
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2007-108035
公開番号(公開出願番号):特開2008-221821
出願日: 2007年04月17日
公開日(公表日): 2008年09月25日
要約:
【課題】高速に位置合わせを行うことが可能な、新規なパターン転写装置、インプリント装置、パターン転写方法および位置合わせ方法を提供する。【解決手段】 アライメントマークを有するモールドと、アライメントマークを有する基板とを備え、該モールドに形成されている凹凸パターンを、該基板あるいは該基板と該モールド間に介在する樹脂に転写するパターン転写方法であって、 前記モールドのアライメントマークと、基準基板のアライメントマークとを第1の物体位置に配置し、第1の撮像部で観察して第1の画像を取得する第1の工程と、 前記基準基板のアライメントマークを、前記第1の物体位置と間隔を隔てた第2の物体位置に配置し、第2の撮像部で観察して第2の画像を取得する第2の工程と、 前記第1及び第2の画像を用いて、これらアライメントマークによる画像位置の差に関する情報を取得する第3の工程と、を有する構成とする。【選択図】 図1
請求項(抜粋):
基板とモールドとにアライメントマークがそれぞれ構成され、該モールドに形成されている凹凸パターンを、該基板あるいは該基板と該モールド間に介在する樹脂に転写するパターン転写装置であって、
第1の物体位置における画像を取得する第1の撮像部と、
前記第1の物体位置と間隔を隔てた第2の物体位置における画像を取得する第2の撮像部とを備え、
前記第1の物体位置に前記モールドおよび、基板または基準基板のアライメントマークが配置可能に構成されると共に、第2の物体位置に前記基板または前記基準基板のアライメントマークが配置可能に構成され、
前記第1及び第2の物体位置に配置されたアライメントマークを、それぞれ前記第1及び第2の撮像部で観察することによって、これらの撮像部で観察される画像位置の差に関する情報を取得し、
前記取得された情報を用いて前記モールドと前記基板の面内方向の位置合わせを行い、前記パターンの転写をすることを特徴とするパターン転写装置。
IPC (4件):
B29C 59/02
, H01L 21/027
, G03F 7/20
, B82B 1/00
FI (4件):
B29C59/02 Z
, H01L21/30 502D
, G03F7/20 501
, B82B1/00
Fターム (22件):
2H097AA20
, 2H097KA03
, 2H097KA20
, 2H097LA20
, 4F209AD08
, 4F209AF01
, 4F209AG05
, 4F209AH33
, 4F209AH73
, 4F209AP06
, 4F209AQ01
, 4F209AR07
, 4F209PA02
, 4F209PB01
, 4F209PC01
, 4F209PC05
, 4F209PN06
, 4F209PN13
, 4F209PQ11
, 5F046AA28
, 5F046FA09
, 5F046FC04
引用特許:
出願人引用 (2件)
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米国特許第6696220号明細書
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位置検出方法及び位置検出装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平9-159234
出願人:キヤノン株式会社
審査官引用 (4件)