特許
J-GLOBAL ID:200903059296097004
電子装置用温度制御システム
発明者:
,
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
深見 久郎 (外5名)
公報種別:公表公報
出願番号(国際出願番号):特願平10-542958
公開番号(公開出願番号):特表2001-526837
出願日: 1998年04月03日
公開日(公表日): 2001年12月18日
要約:
【要約】温度制御システムは:電子装置(11)に接触する第1の面(13a)と、第1の面に対向する第2の面(13b)とを有する電気ヒータ(13)と;ヒータの第2の面に結合され、ヒータの第2の面を介して電子装置(11)から熱を吸収するヒートシンク(14)と;電子装置に結合され、装置温度Tdを感知する温度センサ(12c)とを含む。制御回路(15)は装置温度センサおよびヒータに結合され、電子装置の感知された温度が設定された点を上回る場合にはヒータへのパワーを減少させ、逆の場合にはその逆を行なう。ヒータ温度ThがTd未満である場合には、熱は電子装置からヒータを介してヒートシンクに流れ、熱の流れの割合はTd-Thが増大するにつれて増大する。ThがTdを上回る場合には、熱はヒータから電子装置へ流れ、熱の流れの割合はTh-Tdが増大するにつれて増大する。
請求項(抜粋):
電子装置(11)の温度を設定された点温度付近に維持する温度制御システム(図1)であって、 前記電子装置と接触するための第1の面(13a)と、前記第1の面(13a)に対向する第2の面(13b)とを有する電気ヒータ(13)と、 前記ヒータ(13)の前記第2の面(13b)に結合され、前記ヒータ(13)の前記第2の面(13b)を介して前記電子装置(11)から熱を吸収するヒートシンク(14)と、 前記電子装置(11)に結合される温度センサ(12c)と、 前記温度センサ(12c)と前記ヒータ(13)とに結合され、前記電子装置(11)の感知された温度が前記設定された点を上回る場合には前記ヒータ(13)へのパワーを低減し、逆の場合にはその逆を行なう、温度制御システム。
IPC (3件):
H01L 23/34
, G01R 31/26
, H05K 7/20
FI (4件):
H01L 23/34 D
, G01R 31/26 H
, G01R 31/26 B
, H05K 7/20 D
引用特許:
審査官引用 (9件)
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プローブステーション
公報種別:公開公報
出願番号:特願平8-096853
出願人:カスケードマイクロテックインコーポレイテッド
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サセプタ温度制御方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願平4-356442
出願人:東京エレクトロン株式会社
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特開平2-001577
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特開平1-286322
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冷却試験装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平6-239920
出願人:日本電気株式会社
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特開平4-104072
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集積回路チツプのバーンイン選別方法および装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平4-084547
出願人:ヒユーレツト・パツカード・カンパニー
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テスト中の装置の温度制御方法及び装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平9-288695
出願人:シュルンベルジェテクノロジーズ,インコーポレイテッド
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特開昭51-104272
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