特許
J-GLOBAL ID：200903060531406891

コネクタ端子導通試験装置

発明者：
加藤 洋一

加藤 洋一 について


出願人/特許権者：
桑名エンヂニアリングプラスチック株式会社

桑名エンヂニアリングプラスチック株式会社 について


代理人 (1件)： 和気 操
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-185910
公開番号（公開出願番号）：特開2000-019214
出願日： 1998年07月01日
公開日（公表日）： 2000年01月21日
要約：
【要約】【課題】 一個の試験装置で一回の操作で、一つのワイヤーハーネスに備えられている複数のコネクタを同時に試験する。【解決手段】 コネクタ受部に載置された被試験コネクタの端子と、該コネクタに対向配置された検査部とが嵌合することにより、回路の導通を試験する試験装置において、上記コネクタ受部は、被試験コネクタの端子が検査部と嵌合できる位置に複数個配置され、上記検査部は、コネクタ受部にそれぞれ対向して複数個配置され、被試験コネクタの端子に検査部が複数個同時に嵌合する。
請求項（抜粋）：
コネクタ受部に嵌挿された被試験コネクタの端子と、該コネクタに対向配置された検査部とが嵌合することにより、回路の導通を試験するコネクタ端子導通試験装置において、前記コネクタ受部は、前記被試験コネクタの端子が前記検査部と嵌合できる位置に複数個配置され、前記検査部は、前記コネクタ受部にそれぞれ対向して複数個配置され、前記被試験コネクタの端子に前記検査部が複数個同時に嵌合することを特徴とするコネクタ端子導通試験装置。
IPC (2件)：
G01R 31/04 ,  H01R 43/00
FI (2件)：
G01R 31/04 ,  H01R 43/00 Z
Fターム (12件)：
2G014AA01 ,  2G014AA13 ,  2G014AB01 ,  2G014AB24 ,  2G014AB28 ,  2G014AB33 ,  2G014AB34 ,  2G014AB38 ,  2G014AB60 ,  2G014AC19 ,  5E051GA09 ,  5E051GB09
引用特許：
審査官引用 (5件)
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