座標測定装置によって測定対象物の幾何学的形状を測定する方法。

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：朝倉勝三
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-528767
公開番号（公開出願番号）：特表2004-509346
出願日： 2001年09月20日
公開日（公表日）： 2004年03月25日
要約：

本発明は、座標測定装置(10)によって、加工物や工具等の対象物(12)の幾何学的形状を測定する方法に関する。対象物(12)の幾何学的形状は、例えばカメラなどの光学センサ(14)により検出され記録されてイメージ内容の形で表示される。幾何学的要素又は輪郭などの、対象物(12)の測定に適したイメージ内容内の幾何学的構造が選択されるとともに、これに続いて評価ないし判読される。本発明の目的は、未熟練の操作者でも、測定を迅速かつ誤りなく行ない得るようにすることである。イメージ内容(32)が変更された場合、対象物(12)の測定に適した幾何学的構造(60-70)に関してサーチされるとともに、この適合した幾何学的構造にマークが付され、更なる評価がなされる。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

座標測定装置(10)によって、加工物や工具等の測定対象物(12)の幾何学的形状を測定する方法であって、該測定対象物(12)の幾何学的形状を、カメラ等の光学センサ(14)によって受け取るとともにイメージ内容(32)として表示し、該イメージ内容において、幾何学的要素又は輪郭などの測定対象物(12)の測定に適した幾何学的構造(60-70)を選択するとともに、これに続いて評価するようにした方法において、該イメージ内容の変更に際して、該測定対象物(12)の測定に適した幾何学的構造(60-70)について該イメージ内容(32)を自動的にサーチするとともに適切な構造についてマークを付して、更なる評価の用に供するようにしたことを特徴とする方法。

IPC (2件)：

G01B11/24 , G06T1/00

FI (3件)：

G01B11/24 A , G06T1/00 300 , G01B11/24 K

Fターム (35件)：

2F065AA07 , 2F065AA21 , 2F065AA32 , 2F065CC10 , 2F065FF04 , 2F065FF61 , 2F065JJ03 , 2F065JJ26 , 2F065LL06 , 2F065NN01 , 2F065PP12 , 2F065QQ21 , 2F065QQ24 , 2F065QQ36 , 2F065QQ39 , 2F065RR06 , 2F065SS13 , 5B057AA01 , 5B057BA02 , 5B057CA02 , 5B057CA08 , 5B057CA16 , 5B057CB01 , 5B057CB17 , 5B057CE15 , 5B057CF05 , 5B057DA08 , 5B057DA16 , 5B057DB02 , 5B057DB05 , 5B057DB09 , 5B057DC09 , 5B057DC16 , 5B057DC22 , 5B057DC39

引用特許：

審査官引用 (24件)

画像測定機及びその方法
公報種別：公開公報出願番号：特願平9-222293 出願人：株式会社ニコン
画像測定装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平10-004892 出願人：株式会社ミツトヨ
特開平4-198741

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