特許
J-GLOBAL ID：200903061339931881

しみ検査方法及びしみ検査装置

発明者：
松本 一郎

松本 一郎 について

, 
西川 哲夫

西川 哲夫 について


出願人/特許権者：
富士フイルムマイクロデバイス株式会社

富士フイルムマイクロデバイス株式会社 について

, 
富士写真フイルム株式会社

富士写真フイルム株式会社 について


代理人 (2件)： 高橋 敬四郎 ,  来山 幹雄
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2005-041112
公開番号（公開出願番号）：特開2006-226837
出願日： 2005年02月17日
公開日（公表日）： 2006年08月31日
要約：
【課題】 正確性の高いしみ検査を行う【解決手段】 (a)輝度データを準備する。(b)前記輝度データの第1の方向に沿う輝度値から一群の1次微分値を求め、1次微分値から一群の2次微分値を求め、2次微分値に基づいて第1のデータを出力する。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
(a)輝度データを準備する工程と、 (b)前記輝度データの第1の方向に沿う輝度値から一群の1次微分値を求め、1次微分値から一群の2次微分値を求め、2次微分値に基づいて第1のデータを出力する工程と を有するしみ検査方法。
IPC (4件)：
G01N 21/88 ,  G02F 1/13 ,  H01J 9/42 ,  H04N 1/40
FI (4件)：
G01N21/88 Z ,  G02F1/13 101 ,  H01J9/42 C ,  H04N1/40 101G
Fターム (21件)：
2G051AA90 ,  2G051AB20 ,  2G051CA04 ,  2G051EA08 ,  2G051EA11 ,  2G051EA17 ,  2G051EA25 ,  2G051EC05 ,  2G051ED21 ,  2H088FA12 ,  2H088FA13 ,  2H088FA30 ,  2H088MA20 ,  5C012UU01 ,  5C077LL02 ,  5C077MM02 ,  5C077PP03 ,  5C077PP32 ,  5C077PP47 ,  5C077PQ12 ,  5C077SS01
引用特許：
出願人引用 (13件)
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審査官引用 (11件)
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