特許
J-GLOBAL ID：200903062361492499
スピン検出装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
須山 佐一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-229738
公開番号（公開出願番号）：特開平11-064476
出願日： 1997年08月26日
公開日（公表日）： 1999年03月05日
要約：
【要約】【課題】 任意形状の強磁性を示す導電性試料の伝導電子スピン偏極度を、スピン偏極トンネリング効果を利用して、試料の形状や特性を維持したまま非破壊に測定することを可能にする。【解決手段】 導電性を有する強磁性体からなる電極本体2の表面に絶縁層3を設けて電極1を構成する。この電極1と被測定試料5との間に絶縁層3を介してトンネル接合が生じるように、電極1を被測定試料5に密接させつつ、電極1と被測定試料5との相対位置を制御する。電極は直接遷移型半導体からなる電極本体の表面に絶縁層を設けて構成してもよい。この場合、電極本体にスピン偏極電子を生じさせるように、電極に円偏光を照射する。
請求項（抜粋）：
スピン偏極トンネリング効果により被測定試料の伝導電子スピン偏極度を測定するスピン検出装置において、導電性を有する強磁性体からなる電極本体と、前記電極本体の表面に設けられた絶縁層とを有する電極と、前記電極と前記被測定試料との間に前記絶縁層を介してトンネル接合が生じるように、前記電極を前記被測定試料に密接させつつ、前記電極と前記被測定試料との相対位置を制御する手段と、前記電極と前記被測定試料に磁界を印加する手段とを具備することを特徴とするスピン検出装置。
IPC (3件)：
G01R 33/12
, G01R 33/09
, H01L 43/08
G01R 33/12 Z
, H01L 43/08
, G01R 33/06 R
