特許
J-GLOBAL ID:200903063296789213
電界効果トランジスタ及びその製造方法
発明者:
,
,
出願人/特許権者:
代理人 (11件):
前田 弘
, 竹内 宏
, 嶋田 高久
, 竹内 祐二
, 今江 克実
, 藤田 篤史
, 二宮 克也
, 原田 智雄
, 井関 勝守
, 関 啓
, 杉浦 靖也
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2005-348790
公開番号(公開出願番号):特開2006-190991
出願日: 2005年12月02日
公開日(公表日): 2006年07月20日
要約:
【課題】製造工程において電子ビーム露光を必要としないT字型ゲート電極を有するIII-V族窒化物系電界効果トランジスタを実現できるようにする。【解決手段】電界効果トランジスタは、複数の半導体膜が積層された第1の半導体層14と、第1の半導体層14の上に形成された第2の半導体層15とを備えている。第2の半導体層15の上には、互いに間隔をおいてソース電極17及びドレイン電極18が形成されている。第2の半導体層15のソース電極17及びドレイン電極18に挟まれた領域には、側壁に絶縁膜16が形成され、第1の半導体層14を露出する開口部が形成されている。開口部には、絶縁膜16と接し且つ開口部の底面において第1の半導体層14と接するゲート電極19が形成されている。【選択図】図1
請求項(抜粋):
複数の半導体膜が積層されてなる第1の半導体層と、
前記第1の半導体層の主面と接して形成された第2の半導体層と、
前記第2の半導体層の前記第1の半導体層と反対側の面に、互いに間隔をおいて形成されたソース電極及びドレイン電極と、
前記第2の半導体層における前記ソース電極及びドレイン電極に挟まれた領域に形成され、前記第1の半導体層を露出する開口部と、
前記開口部の側壁に形成された絶縁膜と、
前記絶縁膜と接し且つ前記第1の半導体層における前記開口部からの露出部分と接するゲート電極とを備えていることを特徴とする電界効果トランジスタ。
IPC (5件):
H01L 29/812
, H01L 21/338
, H01L 29/778
, H01L 29/417
, H01L 21/28
FI (4件):
H01L29/80 F
, H01L29/80 H
, H01L29/50 J
, H01L21/28 301B
Fターム (31件):
4M104AA04
, 4M104BB02
, 4M104BB05
, 4M104BB09
, 4M104BB14
, 4M104BB23
, 4M104CC01
, 4M104CC03
, 4M104DD03
, 4M104DD26
, 4M104FF07
, 4M104GG12
, 4M104HH15
, 4M104HH20
, 5F102FA01
, 5F102GB01
, 5F102GC01
, 5F102GD01
, 5F102GJ10
, 5F102GK04
, 5F102GL04
, 5F102GM04
, 5F102GN04
, 5F102GQ01
, 5F102GR01
, 5F102GR03
, 5F102GR04
, 5F102GS04
, 5F102GT05
, 5F102GV05
, 5F102HC02
引用特許:
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