特許
J-GLOBAL ID：200903063371445282

高速中性子及び連続エネルギー・スペクトルX線により材料識別する方法及びその装置

発明者：
康 克軍

康 克軍 について

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胡 海峰

胡 海峰 について

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謝 亞麗

謝 亞麗 について

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苗 齊田

苗 齊田 について

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楊 ▲イ▼ガン

楊 ▲イ▼ガン について

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李 元景

李 元景 について

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陳 志強

陳 志強 について

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王 學武

王 學武 について


出願人/特許権者：
清華大學

清華大學 について

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清華同方威視技術股▲ふん▼有限公司

清華同方威視技術股▲ふん▼有限公司 について


代理人 (2件)： 池田 憲保 ,  福田 修一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-133483
公開番号（公開出願番号）：特開2007-127617
出願日： 2006年05月12日
公開日（公表日）： 2007年05月24日
要約：
【課題】高速中性子及び連続エネルギー・スペクトルX線による材料識別の方法と装置を提供する。【解決手段】本発明の方法は、(a)高速中性子源及び連続エネルギー・スペクトルX線源でそれぞれ産生された高速中性子ビーム及び連続エネルギー・スペクトルX線ビームを被検対象に照射する;(b)X線検出器アレー及び中性子検出器アレーにて、透過したX線ビーム及び高速中性子ビームの強度を直接計測する;(c)被検対象の異なる材料を透過した中性子ビームとX線ビームの減衰差によって形成された曲線により、被検対象の材料に対して材料識別を行う;ステップを含む。 高速中性子と連続エネルギー・スペクトルX線との透過減衰強度が異なるように構成され、被検対象の厚さと無関係に被検対象の等効原子番号Zとのみ関係するn-X曲線を利用して材料識別を行う。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
高速中性子及び連続エネルギー・スペクトルX線により材料識別を行う方法であって (a)高速中性子源及び連続エネルギー・スペクトルX線源でそれぞれ産生された高速中性子ビーム及び連続エネルギー・スペクトルX線ビームを被検対象に照射する; (b)X線検出器アレー及び中性子検出器アレーにて、透過したX線ビーム及び高速中性子ビームの強度を直接計測する; (c)被検対象の異なる材料を透過した中性子ビームとX線ビームの減衰差によって形成された曲線により、被検対象の材料に対して材料識別を行う;ステップを含むことを特徴とする方法。
IPC (6件)：
G01N 23/05 ,  G01N 23/04 ,  G21K 5/02 ,  G21K 5/08 ,  H05H 3/06 ,  H05H 6/00
FI (7件)：
G01N23/05 ,  G01N23/04 ,  G21K5/02 W ,  G21K5/02 N ,  G21K5/08 N ,  H05H3/06 ,  H05H6/00
Fターム (33件)：
2G001AA01 ,  2G001AA04 ,  2G001AA10 ,  2G001AA20 ,  2G001BA11 ,  2G001CA01 ,  2G001CA04 ,  2G001CA10 ,  2G001DA02 ,  2G001DA06 ,  2G001DA08 ,  2G001EA06 ,  2G001FA01 ,  2G001FA29 ,  2G001GA06 ,  2G001HA13 ,  2G001JA01 ,  2G001JA09 ,  2G001JA13 ,  2G001KA01 ,  2G001LA20 ,  2G001PA11 ,  2G001SA02 ,  2G001SA10 ,  2G085AA03 ,  2G085BA01 ,  2G085BA17 ,  2G085BE07 ,  2G085CA11 ,  2G085CA26 ,  2G085DA02 ,  2G085DA03 ,  2G085EA06
引用特許：
出願人引用 (1件)
  • 国際公開第WO 2004/053472号パンフレット
審査官引用 (12件)
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引用文献：
審査官引用 (1件)

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