特許
J-GLOBAL ID：200903063559949210
高速自動スペクトルフィッティング法
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
稲岡 耕作 (外2名)
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-553776
公開番号（公開出願番号）：特表2002-517746
出願日： 1999年04月28日
公開日（公表日）： 2002年06月18日
要約：
【要約】予想されるスペクトル線を含むICP-ESで励起されたスペクトル区間を、波長較正情報とモデル成分のスペクトルからモデル化する。次にサンプルが励起され、データへのフィッティングを行うと同時に波長の較正を観察して、残余の解析から得られる線形最小二乗フィッティングを行って予期せぬスペクトルの特徴の存在を判定し、もしも存在すれば追加のモデル成分を与えてフィッティング操作を反復する。
請求項（抜粋）：
光学的分光計の焦点面上で観察される、誘導結合プラズマによって励起されたスペクトルの処理方法であって、当該方法は、 (a) 所定のスペクトル区間内で予想される特徴の表現を形作り; (b) 前記焦点面上の位置に対応する少なくとも1つの選択された波長を突き止め、それにより前記焦点面上での前記所定のスペクトル区間にわたる波長基準を確立し; (c) 濃度が分かっている少なくとも1つの所定のスペクトルにおける特徴を観察して、それにより濃度の基準を確立し; (d) 波長に依存する選択された数学的形式と、前記数学的形式と前記観察されたスペクトルの特徴との比較によって得られる残余との組み合わせによって前記スペクトルの特徴を表現して、それによりモデルスペクトル成分を取得し; (e) サンプルを分析する以下の各工程; (f) 少なくとも前記スペクトルの窓内に前記サンプルのスペクトルを記録して、それと同時に前記最初の選択された波長を観察し; (g) 工程(b) (工程(f) と比較して)で得られた前記最初の選択された波長に対して前記焦点面上での位置のシフトを求め、それに応じて前記数学的形式と前記残余を変更することにより前記モデルスペクトル成分の各々に前記シフトを組み込み; (h) 前記記録されたスペクトルの前記モデルスペクトル成分への線形最小二乗法によるフィッティングを行って、前記モデル成分に対応するスペクトルの特徴の強度を、それから得られる残余の分布とともに確立し; (i) 前記残余を解析し、前記処理を終了するための所定の基準を前記フィッティングが満足するかどうかを判定し、満足しない場合は; (j) 残余の前記分布を調べて、有意の相対的最大値があるかどうかを判定し、 それに応じて;前記相対的最大値に対応する波長を求め、前記相対的最大値の波長にある別のモデル成分を定めて、工程(h) および(i) を繰り返すか、または有意の残余最大値が見つからない場合は前記強度を表示して手順を終了することを特徴とするスペクトル処理方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
Fターム (21件)：
2G020AA05
, 2G020BA12
, 2G020CA01
, 2G020CC63
, 2G020CD04
, 2G020CD14
, 2G020CD36
, 2G020CD37
, 2G020CD38
, 2G020CD39
, 2G043AA01
, 2G043CA01
, 2G043EA08
, 2G043FA07
, 2G043JA01
, 2G043KA03
, 2G043KA05
, 2G043LA03
, 2G043NA01
, 2G043NA06
, 2G043NA13
