特許
J-GLOBAL ID:200903063977292457
窒化物半導体レーザ素子
発明者:
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出願人/特許権者:
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-212851
公開番号(公開出願番号):特開2001-044570
出願日: 1999年07月27日
公開日(公表日): 2001年02月16日
要約:
【要約】【課題】 素子の劣化を防止して寿命特性が良好となる窒化物半導体レーザ素子を提供することである。【解決手段】 活性層6が、障壁層の膜厚が100オングストローム以上で、且つ井戸層の膜厚に対する障壁層の膜厚の比が[井戸層の膜厚:障壁層の膜厚]=[1:3〜10]である量子井戸構造である。
請求項(抜粋):
基板上に、少なくともn型窒化物半導体、障壁層とInを含んでなる井戸層とを有する量子井戸構造の活性層、及びp型窒化物半導体を順に積層してなる窒化物半導体レーザ素子において、前記活性層が、障壁層の膜厚が100オングストローム以上で、且つ井戸層の膜厚に対する障壁層の膜厚の比が[井戸層の膜厚:障壁層の膜厚]=[1:3〜10]である量子井戸構造であることを特徴とする窒化物半導体レーザ素子。
Fターム (8件):
5F073AA13
, 5F073AA51
, 5F073AA74
, 5F073AA77
, 5F073CA07
, 5F073CB05
, 5F073DA05
, 5F073EA28
引用特許: