特許
J-GLOBAL ID:200903064641709909
基板検査用接触子及び基板検査用治具
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (1件):
北村 秀明
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2007-171554
公開番号(公開出願番号):特開2009-008579
出願日: 2007年06月29日
公開日(公表日): 2009年01月15日
要約:
【課題】 被検査基板の配線パターン上に設定された所定の検査点に圧接され、この被検査基板と基板検査装置との間で検査信号の伝達を可能とする基板検査用接触子の提供。【解決手段】 一方が電圧測定に他方が電流印加用に用いられる第一導電部及び第二導電部を有する基板検査用接触子であって、第一導電部は可撓性及び導電性を有する棒形状に形成され、第二導電部は第一導電部を内部に収容するとともに可撓性及び導電性を有する筒状部材により形成され、第一と第二導電部の内周面との間には長さ方向の全長に亘って隙間が形成され、第二導電部の一方側には、第二導電部の周壁の一部に軸長方向に摺動するスプリング部を有し、使用時において、まずスプリング部が収縮し、その後検査点に更に基板検査用接触子が押圧され、第一導電部及び第二導電部が夫々独立して湾曲する。【選択図】 図4
請求項(抜粋):
被検査基板の配線パターン上に設定される所定の検査点に夫々が圧接され、一方が電圧測定に他方が電流印加用に用いられる第一導電部及び第二導電部を有する基板検査用接触子であって、
前記第一導電部は、可撓性及び導電性を有する棒形状に形成され、
前記第二導電部は、前記第一導電部を内部に収容するとともに可撓性及び導電性を有する筒状部材により形成され、前記第一導電部と前記第二導電部の内周面との間には長さ方向の全長に亘って隙間が形成され、
前記第二導電部の一方側には、該第二導電部の周壁の一部に、軸長方向に摺動するスプリング部を有し、
前記基板検査用接触子の第一導電部及び第二導電部が検査点に接触する使用時において、まずスプリング部が収縮し、その後、検査点に更に基板検査用接触子が押圧されることによって、前記第一導電部及び前記第二導電部が夫々独立して湾曲することを特徴とする基板検査用接触子。
IPC (5件):
G01R 1/073
, G01R 1/067
, G01R 31/26
, H05K 3/00
, H01L 21/66
FI (6件):
G01R1/073 A
, G01R1/067 J
, G01R1/067 C
, G01R31/26 J
, H05K3/00 T
, H01L21/66 B
Fターム (20件):
2G003AG03
, 2G003AG08
, 2G003AG12
, 2G003AH05
, 2G003AH07
, 2G011AA03
, 2G011AA13
, 2G011AA22
, 2G011AB01
, 2G011AB06
, 2G011AB07
, 2G011AB08
, 2G011AC14
, 2G011AE01
, 2G011AE03
, 2G011AF07
, 4M106AA01
, 4M106BA01
, 4M106DD03
, 4M106DD04
引用特許:
出願人引用 (2件)
審査官引用 (5件)
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