特許
J-GLOBAL ID:200903065554151213

洗浄液及びそれを用いた洗浄方法

発明者:
出願人/特許権者:
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2003-387438
公開番号(公開出願番号):特開2004-292792
出願日: 2003年11月18日
公開日(公表日): 2004年10月21日
要約:
【課題】 半導体デバイス等に用いられる銅配線を侵さず、不純物除去性に優れ、洗浄液成分の析出のない洗浄液を提供する。特にベンゾトリアゾール等の付着性の強い防食剤を含むスラリーを用いたCMP処理後に、銅配線を侵すことなしに、塩基性下で不純物成分と併せてベンゾトリアゾールをも除去可能な洗浄剤を提供する。【解決手段】 尿素及び/又はエチレン尿素0.001〜60重量%、第四級アンモニウム水酸化物、アンモニア等のアルカリ成分0.0001〜10重量%、クエン酸・リンゴ酸、酒石酸等の有機酸及び/その塩0.0001〜10重量%を含んでなり、必要に応じて過酸化水素10重量%以下、界面活性剤をさらに含んでなり、残部が水である洗浄液を用いる。【選択図】 選択図なし
請求項(抜粋):
水、尿素及び/又はエチレン尿素、有機酸及び/又はその塩、及びアルカリ成分を含んでなる洗浄液。
IPC (5件):
C11D7/32 ,  C11D7/04 ,  C11D7/18 ,  C11D7/26 ,  H01L21/304
FI (5件):
C11D7/32 ,  C11D7/04 ,  C11D7/18 ,  C11D7/26 ,  H01L21/304 647Z
Fターム (13件):
4H003DA15 ,  4H003DB01 ,  4H003EA20 ,  4H003EA23 ,  4H003EB07 ,  4H003EB08 ,  4H003EB18 ,  4H003EB19 ,  4H003ED02 ,  4H003ED29 ,  4H003EE04 ,  4H003FA15 ,  4H003FA28
引用特許:
出願人引用 (5件)
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審査官引用 (7件)
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