特許
J-GLOBAL ID：200903065680543895

飛行時間型質量分析装置

発明者：
上野 良弘

上野 良弘 について


出願人/特許権者：
株式会社島津製作所

株式会社島津製作所 について


代理人 (1件)： 小林 良平
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2005-338593
公開番号（公開出願番号）：特開2007-149372
出願日： 2005年11月24日
公開日（公表日）： 2007年06月14日
要約：
【課題】複数の扇形電場により形成される周回軌道に沿ってイオンが飛行する飛行時間型質量分析装置において、簡単な構造で以てイオンを周回毎に電場の軸方向に偏向させて螺旋状の軌道を形成する。【解決手段】扇形電場E1、E2を形成する円筒電極11、12の間に、扇形電場の軸方向(Y軸方向)にイオンをずらすような偏向磁場B1を発生させるための一対の平板磁極15a、15bを互いに平行に配置する。イオンが各周回毎に偏向磁場B1を通過する際に電荷を有するイオンは磁場の作用によるローレンツ力を受け、その軌道はY軸方向に屈曲される。この構成では、周回数に拘わらずイオン軌道Pを挟んで一対の磁極を配置しさえすればよいので、電場により偏向させる場合に比べて構造が簡単になる。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
イオンを周回飛行させるようにイオンの飛行経路に沿った複数の扇形電場を形成するイオン光学系を具備する飛行時間型質量分析装置において、 前記複数の扇形電場の中で隣接する2つの電場の間に、通過するイオンの軌道を該電場の軸方向にずらす偏向磁場を形成する磁場形成手段を備えることを特徴とする飛行時間型質量分析装置。
IPC (2件)：
H01J 49/40 ,  G01N 27/62
FI (2件)：
H01J49/40 ,  G01N27/62 K
Fターム (3件)：
2G041CA01 ,  2G041GA06 ,  2G041GA29
引用特許：
出願人引用 (2件) 審査官引用 (6件)
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