特許
J-GLOBAL ID:200903066335586553
プローブ物質を載せた導波路法による蛍光測定方法
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (1件):
杉山 一夫
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2001-239916
公開番号(公開出願番号):特開2003-014647
出願日: 2001年07月04日
公開日(公表日): 2003年01月15日
要約:
【要約】【課題】 複数のターゲット物質を同時に測定する。【解決手段】 少なくとも一部を光導波路層としたマイクロアレイチップ基板1における該光導波路層とした部分における一方側の面に、特定のターゲット物質に対して選択的結合性を有するプローブ物質2を付着せしめる。また、該プローブ物質2によってターゲット物質3を選択的に結合させる。マイクロアレイチップ基板1の光導波路層に光源4から励起光4aを入射させる。そして光導波路界面からも生じたエバネッセント波励起による蛍光測定を行う。
請求項(抜粋):
少なくとも一部を光導波路層としたマイクロアレイチップ基板における該光導波路層とした部分における一方側の面に、特定のターゲット物質に対して選択的結合性を有するプローブ物質を予め付着せしめると共に該プローブ物質によってターゲット物質を選択的に結合させ、更に前記マイクロアレイチップ基板の光導波路層に励起光を入射させ、該ターゲット物質固有の光学的性質や結合により生じた光学的性質に関して、光導波路界面より生じたエバネッセント波励起による蛍光測定を行うようになしたことを特徴とするプローブ物質を載せた導波路法による蛍光測定方法。
IPC (4件):
G01N 21/64
, G01N 33/53
, G01N 33/543 595
, G01N 37/00 102
FI (5件):
G01N 21/64 G
, G01N 33/53 D
, G01N 33/53 M
, G01N 33/543 595
, G01N 37/00 102
Fターム (14件):
2G043AA01
, 2G043BA16
, 2G043DA02
, 2G043EA01
, 2G043FA06
, 2G043GA02
, 2G043GA04
, 2G043GB18
, 2G043GB19
, 2G043HA01
, 2G043HA05
, 2G043JA03
, 2G043LA03
, 2G043MA01
引用特許:
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