特許
J-GLOBAL ID：200903069547765562

印刷はんだ検査装置及び印刷はんだ検査方法

発明者：
中道 泰久

中道 泰久 について

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木村 剛

木村 剛 について

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櫛渕 恭男

櫛渕 恭男 について


出願人/特許権者：
アンリツ株式会社

アンリツ株式会社 について


代理人 (1件)： 三澤 正義
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-159702
公開番号（公開出願番号）：特開2007-327867
出願日： 2006年06月08日
公開日（公表日）： 2007年12月20日
要約：
【課題】予め未印刷基板で測定された各部の高さと、実際にはんだが印刷された基板を測定して得られた各部の高さとから、パッド部分の面からのはんだ高さを測定する技術を提供する。【解決手段】プリント板にはんだを印刷する前の段階で測定手段が該プリント板を走査して測定した高さを基に、はんだ箇所であるパッド部の高さとその周辺のレジスト部の高さとの差を求めるオフセット算出手段3aと、はんだが印刷された前記プリント板もしくは前記プリント基板と同一形状のプリント板を測定手段が測定して求めた前記はんだ箇所におけるはんだ高さ、その周辺のレジスト部の高さ、及び前記オフセット算出手段が求めた該差を基に、前記パッドからのはんだの高さを算出するはんだ高さ算出手段3cとを備えた。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
プリント板の表面に光を照射させ、その反射光を受光するセンサ(2a)を有し、該センサを該プリント板に対して相対的に走査させて該センサの出力を基に該プリント板表面の各位置における高さを含む測定値を取得する測定手段(2)を備え、該測定値に基づいてはんだの印刷状態を判定する印刷はんだ検査装置において、 前記プリント板にはんだを印刷する前の段階で前記測定手段が該プリント板を走査して測定した高さを基に、はんだ箇所であるパッド部の高さ(Hp)とその周辺のレジスト部の高さ(Hr)との差を求めるオフセット算出手段(3a)と、 前記はんだが印刷された、前記プリント板もしくは前記プリント基板と同一形状のプリント板を前記測定手段が測定して求めた前記はんだ箇所におけるはんだ高さ(Hh)、その周辺のレジスト部の高さ(Hr)、及び前記オフセット算出手段が求めた該差を基に、前記パッドからのはんだの高さ(Hhp)を算出するはんだ高さ算出手段(3c)と、 を備えたことを特徴とする印刷はんだ検査装置。
IPC (2件)：
G01B 11/02 ,  G01N 21/956
FI (2件)：
G01B11/02 Z ,  G01N21/956 B
Fターム (21件)：
2F065AA20 ,  2F065AA22 ,  2F065AA24 ,  2F065AA58 ,  2F065AA59 ,  2F065AA61 ,  2F065CC01 ,  2F065CC26 ,  2F065FF09 ,  2F065FF41 ,  2F065GG04 ,  2F065HH04 ,  2F065PP22 ,  2F065RR08 ,  2F065SS13 ,  2G051AA65 ,  2G051AB02 ,  2G051AB11 ,  2G051BA10 ,  2G051CA01 ,  2G051EA08
引用特許：
出願人引用 (2件) 審査官引用 (4件)
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