特許
J-GLOBAL ID：200903069613594324

質量分析システムおよび質量分析方法

発明者：
大嶽 敦

大嶽 敦 について

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小林 金也

小林 金也 について

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横須賀 俊之

横須賀 俊之 について

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吉成 清美

吉成 清美 について


出願人/特許権者：
株式会社日立ハイテクノロジーズ

株式会社日立ハイテクノロジーズ について


代理人 (2件)： 小川 勝男 ,  田中 恭助
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2005-156157
公開番号（公開出願番号）：特開2006-329881
出願日： 2005年05月27日
公開日（公表日）： 2006年12月07日
要約：
【課題】微量なタンパク質由来のペプチドなどを、ユーザの欲するタンデム質量分析ターゲットとして計測の無駄なく自動的に判定処理する。【解決手段】測定対象物質をイオン化し、生成した種々のイオン種を質量分析し、生成した種々のイオン種の中から特定の質量対電荷比を持つイオン種を選択して解離させ、イオンの質量分析測定をn段階(n=1,2,...)繰り返すタンデム型の分析システムである。n段階目の質量分析であるMSn結果で、イオンの質量対電荷比に対するピークで表されたイオン強度に基づき、MSnの次の分析の制御内容を分析対象イオン毎に判定するデータ処理する。イオン化検出部14は試料から計測されイオン化されたデータを高精度に照合、同位体ピーク判定する。データ処理部15は、ある一定期間に測定した、例えば親イオンペプチドのMS1のカウント数をIとするとき、ペプチドのMS2の積算回数又は分析時間を1/Iに比例させる。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
測定対象となる物質をイオン化し、生成した種々のイオン種を質量分析し、前記生成した種々のイオン種の中から特定の質量対電荷比(m/z)を持つイオン種を選択して解離させ、イオンの質量分析測定をn段階(n=1,2,...)繰り返すタンデム型質量分析装置を用いた質量分析システムにおいて、 n段階目の質量分析であるMSn結果で、イオンの質量対電荷比に対するピークで表されたイオン強度に基づき、前記MSnの次の分析の制御内容を所定時間内に、分析対象イオン毎に判定するデータ処理部を設けることを特徴とする質量分析システム。
IPC (2件)：
G01N 27/62 ,  H01J 49/26
FI (4件)：
G01N27/62 V ,  G01N27/62 C ,  G01N27/62 X ,  H01J49/26
Fターム (14件)：
2G041CA01 ,  2G041DA16 ,  2G041EA04 ,  2G041EA06 ,  2G041FA10 ,  2G041FA12 ,  2G041GA03 ,  2G041GA10 ,  2G041HA01 ,  2G041JA02 ,  2G041LA06 ,  5C038HH16 ,  5C038HH28 ,  5C038HH30
引用特許：
出願人引用 (2件) 審査官引用 (4件)
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