半導体装置

発明者： , , , ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：深見久郎 (外3名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-182334
公開番号（公開出願番号）：特開2001-014897
出願日： 1999年06月28日
公開日（公表日）： 2001年01月19日
要約：

【要約】【課題】任意に複数のテストモードを設定することが可能な半導体装置を提供する。【解決手段】本発明に係る半導体装置1000は、複数のテストモード回路1A、1Bを含む。各テストモード回路は、入力信号をデコードする複数のデコード回路AD♯1、...と複数のラッチ回路AL♯1、...とを含む。各デコード回路からテストモード信号が発生する。テストモード信号は、ラッチ回路に保持される。各テストモード回路は、対応するラッチ回路をリセットするグループリセット信号を出力するデコード回路AD♯R、...をさらに含む。これにより、任意に、かつシリアルに複数のテストモード信号を組合せることが可能となる。

請求項（抜粋）：

内部回路と、入力信号を受ける複数のテストモード設定回路とを備え、前記複数のテストモード設定回路のそれぞれは、前記入力信号に基づき、前記内部回路のテストモードを設定するテストモード信号を発生するテストモード信号発生回路と、前記テストモード信号の状態を保持する保持回路とを含む、半導体装置。

IPC (2件)：

G11C 29/00 671 , G01R 31/317

FI (2件)：

G11C 29/00 671 T , G01R 31/28 A

Fターム (7件)：

2G032AG01 , 2G032AH01 , 2G032AH04 , 2G032AK12 , 2G032AK14 , 5L106DD11 , 5L106GG05

引用特許：

審査官引用 (5件)

半導体集積回路装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平6-018119 出願人：株式会社東芝
半導体装置の試験回路
公報種別：公開公報出願番号：特願平9-310524 出願人：日本電気株式会社
ダイナミック型ランダムアクセスメモリ装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平4-076104 出願人：日本電気株式会社

全件表示

前のページに戻る