特許
J-GLOBAL ID：200903072168263143
磁気探傷方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
細江 利昭
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-111614
公開番号（公開出願番号）：特開2001-296277
出願日： 2000年04月13日
公開日（公表日）： 2001年10月26日
要約：
【要約】【課題】 電気的ノイズが発生したり、漏洩磁束に影響を与える欠陥以外のものが存在する場合にも、S/N比良く欠陥を検出できる磁気探傷方法を提供する。【解決手段】 磁気センサ5aの信号をV(a)、磁気センサ5bの信号をV(b)とすると、各々のデータを薄鋼板1の移動距離1m×1m分蓄積する。次に、この範囲について信号のRMSを求め、それぞれRa、Rbとする。このRa、Rbは広い範囲の信号のRMSであるので、薄鋼板1の表面粗さの平均値を表しているものと考えられる。よって、V(a)とV(b)の信号をそれぞれRa、Rbで正規化して差し引くことにより、表面粗さの信号をキャンセルことを考える。すなわち、V(t)=Va(t)-V(b)*Ra/Rb により、各チャンネルごとにV(t)を求め、これが所定の閾値を超える範囲を抽出することにより、欠陥候補領域Dを抽出する。そして、欠陥候補領域Dの幅、長さに基づいて欠陥を判定する。
請求項（抜粋）：
金属被検体の表面に対して磁気センサを対向配置させて、異なる2種の探傷条件での漏洩磁束の測定を行い、前記異なる2種の探傷条件での、前記金属被検体上の同位置に対応する測定結果同士を演算して、その結果に基づいて欠陥を検出する磁気探傷方法であって、前記演算に用いる係数を、前記金属被検体表面上の2次元領域における、前記2種の探傷条件での測定結果に基づいて決定することを特徴とする磁気探傷方法。
Fターム (7件)：
2G053AA11
, 2G053AB22
, 2G053BA02
, 2G053BA15
, 2G053CB12
, 2G053CB13
, 2G053CB23
出願人引用 (5件)
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審査官引用 (5件)
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