散乱測定方法、散乱補正方法およびX線CT装置

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：有近紳志郎
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-001941
公開番号（公開出願番号）：特開2005-192790
出願日： 2004年01月07日
公開日（公表日）： 2005年07月21日
要約：

【課題】マルチスライス撮影時における散乱を補正する。【解決手段】投影pと散乱補正係数R(d,do)とを対応付けて記憶しておき、ビーム厚dのX線ビームで被検体を撮影し検出器厚doの検出器で収集したデータD0から投影pを求め、その投影pに対応する散乱補正係数R(d,do)を求め、データD0に散乱補正係数R(d,do)を乗算して散乱補正後のデータD1を得る。【効果】マルチスライス撮影時における散乱に起因するCT画像の画質の低下を抑制できる。【選択図】図5

請求項（抜粋）：

検出器厚doと同等のビーム厚で撮影対象を撮影してデータI(do,do)を測定し、検出器厚doより厚いビーム厚dで撮影対象を撮影してデータI(d,do)を測定し、前記データI(do,do)と前記データI(d,do)の差に基づいて散乱量S(d,do)を求めることを特徴とする散乱測定方法。

IPC (1件)：

A61B6/03

FI (1件)：

A61B6/03 350K

Fターム (5件)：

4C093BA08 , 4C093CA07 , 4C093EB18 , 4C093FC26 , 4C093FF06

引用特許：

出願人引用 (7件)

X線CT装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平6-007831 出願人：株式会社日立メディコ
X線CT装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平6-298089 出願人：株式会社日立メディコ
X線CT装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平10-115626 出願人：株式会社東芝

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