特許
J-GLOBAL ID:200903078017620090

リソグラフィックテンプレート

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 桑垣 衛
公報種別:公表公報
出願番号(国際出願番号):特願2002-577647
公開番号(公開出願番号):特表2005-508075
出願日: 2002年02月27日
公開日(公表日): 2005年03月24日
要約:
本発明は、半導体装置、超小型電子装置、超小型電子機械装置、超小型流体装置に関し、特にリソグラフィックテンプレート、リソグラフィックテンプレートを形成する方法、及びリソグラフィックテンプレートでこれらの装置を形成する方法に関するものである。リソグラフィックテンプレート(20,30,42)は、基板(22,32)と、最上層表面にエッチングパターンまたはレリーフ画像(26,36,48)が形成されたテンプレート台(24,34)を設けることにより形成される。テンプレート(20,30,42)は、半導体装置(44)の製造に、装置(44)のパターンに影響を与える形で使用される。すなわち、装置(44)のパターンは、光照射反応材料(50)をその上に有する半導体装置(44)に極めて近接してテンプレート(20,30,42)を位置させ、圧力(52)を加えて光照射反応材料(50)をテンプレート(42)上に在るレリーフ画像(48)に流れ込ませることにより変形する。次に、テンプレート(42)を通して光照射(53)が行なわれ、光照射反応材料(50)の一部をさらに硬化させ、光照射反応材料(50)にさらにパターンを画定させる。次に、テンプレート(20,30,42)が取り外されて半導体装置(44)の製造が完了する。
請求項(抜粋):
最上層表面を有する基板を設ける工程と、前記最上層表面の上に画定されるテンプレート台を設ける工程とからなり、前記テンプレート台の最上層表面にはエッチングパターンが形成されるリソグラフィックテンプレートの製造方法。
IPC (2件):
H01L21/027 ,  G03F7/20
FI (2件):
H01L21/30 502D ,  G03F7/20 521
Fターム (1件):
5F046AA28
引用特許:
審査官引用 (6件)
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