特許
J-GLOBAL ID：200903081225394453

飛行時間型質量分析装置

発明者：
佐藤貴弥

佐藤貴弥 について


出願人/特許権者：
日本電子株式会社

日本電子株式会社 について


公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2005-114084
公開番号（公開出願番号）：特開2006-294428
出願日： 2005年04月12日
公開日（公表日）： 2006年10月26日
要約：
【課題】簡単な構成で、従来のらせん型飛行時間型質量分析装置の総飛行距離を伸ばし、質量分解能を大幅に向上させた飛行時間型質量分析装置を提供する。【解決手段】試料をイオン化するイオン源と、イオンをパルス的に加速するための手段と、複数のセクター電場で構成され、イオンをらせん軌道で飛行させるらせん軌道型飛行時間型分光部と、らせん軌道型飛行時間型分光部にイオンを入出射させる機構と、らせん軌道型飛行時間型分光部の出射部近傍でイオン軌道を折り返す反射電場と、イオンを検出する検出器とを備えた飛行時間型質量分析装置であって、らせん軌道型飛行時間型分光部を出射したイオンを前記反射電場で反射させて再びらせん軌道型飛行時間型分光部内に戻し、該らせん軌道型飛行時間型分光部内を往復飛行させることによって飛行時間を計測するようにした。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
試料をイオン化するイオン源と、 イオンをパルス的に加速するための手段と、 複数のセクター電場で構成され、イオンをらせん軌道で飛行させるらせん軌道型飛行時間型分光部と、 らせん軌道型飛行時間型分光部にイオンを入出射させる機構と、 らせん軌道型飛行時間型分光部の出射部近傍でイオン軌道を折り返す反射電場と、 イオンを検出する検出器とを備えた飛行時間型質量分析装置であって、 らせん軌道型飛行時間型分光部を出射したイオンを前記反射電場で反射させて再びらせん軌道型飛行時間型分光部内に戻し、該らせん軌道型飛行時間型分光部内を往復飛行させることによって飛行時間を計測するようにしたことを特徴とする飛行時間型質量分析装置。
IPC (4件)：
H01J 49/40 ,  G01N 27/62 ,  G01N 27/64 ,  H01J 49/16
FI (6件)：
H01J49/40 ,  G01N27/62 E ,  G01N27/62 G ,  G01N27/62 K ,  G01N27/64 B ,  H01J49/16
Fターム (6件)：
2G041CA01 ,  2G041DA03 ,  2G041DA04 ,  2G041GA06 ,  5C038GG07 ,  5C038GH06
引用特許：
出願人引用 (2件) 審査官引用 (6件)
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