特許
J-GLOBAL ID：200903083081730405

質量分析装置、質量分析用データ処理装置およびデータ処理方法

発明者：
大西 富士夫

大西 富士夫 について

, 
照井 康

照井 康 について

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折橋 律郎

折橋 律郎 について


出願人/特許権者：
株式会社日立ハイテクノロジーズ

株式会社日立ハイテクノロジーズ について


代理人 (1件)： 筒井 大和
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2008-043820
公開番号（公開出願番号）：特開2008-249694
出願日： 2008年02月26日
公開日（公表日）： 2008年10月16日
要約：
【課題】飛行時間型の質量分析装置におけるA/D変換方式の質量分析用データ処理装置において、サンプリングしたイオン検出信号のベースラインを精度よく計測し、かつ周期的なノイズ成分を低減して、正確な信号強度を求めるための技術を提供する。【解決手段】質量分析用データ処理装置において、ノイズ成分を除去するためのしきい値をマススペクトルを得る前に取得しておき、イオン検出信号をA/D変換器53でサンプリングし、積算処理回路54は、しきい値以上の信号はそのまま積算メモリ55に格納し、しきい値未満の信号はしきい値レベルに置き換える。また、サンプリング中に所望の時間のサンプリング結果の生値を積算メモリ55に格納する。積算終了後にしきい値レベルとなった積算結果には、前記サンプリングの生値結果から所定の演算処理を行って得たベースライン値に置き換える。この処理を終えた積算結果をマススペクトルとする。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
質量分析用検出系を備えた飛行時間型の質量分析装置であって、 イオンを検出し電気信号に変換する検出器と、前記検出器からのイオン検出信号をサンプリングするA/D変換器と、前記A/D変換器からのサンプリングデータを積算処理する積算処理回路と、前記積算処理回路による積算処理結果を格納する積算メモリとを備え、 前記積算処理回路は、ノイズ成分を除去するためのしきい値を取得しておき、前記A/D変換器からのサンプリングデータに基づき、イオン計測時間帯において、前記しきい値以上の信号はそのまま前記積算メモリに格納し、前記しきい値未満の信号は所定の値に置き換えて前記積算メモリに格納し、ベースライン計測時間帯の積算処理結果はそのまま前記積算メモリに格納し、積算処理終了後に前記ベースライン計測時間帯の前記積算メモリの結果からベースライン値を算出し、前記イオン計測時間帯に得た前記積算メモリの結果に対して前記所定の値を前記ベースライン値に置き換えることを特徴とする質量分析装置。
IPC (2件)：
G01N 27/62 ,  H01J 49/40
FI (3件)：
G01N27/62 D ,  H01J49/40 ,  G01N27/62 K
Fターム (3件)：
2G041CA01 ,  2G041GA06 ,  2G041LA01
引用特許：
出願人引用 (2件)
  • 特許第3741563号公報
  • 米国特許第6737642号明細書
審査官引用 (8件)
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