保護回路および半導体装置

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (6件)：前田弘 , 小山廣毅 , 竹内宏 , 竹内祐二 , 今江克実 , 原田智雄
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-303823
公開番号（公開出願番号）：特開2005-072514
出願日： 2003年08月28日
公開日（公表日）： 2005年03月17日
要約：

【課題】耐タンパ性の高い保護回路およびこれを備えた半導体装置を提供する。【解決手段】工場検査時に信号発生器1より、シールド線2に遷移信号を供給し、カウンタ3に到達するまで、クロックパルスCLKを数えて、不揮発メモリ5に参照用情報として格納しておく。出荷後は、半導体装置の起動時と動作の待機状態時に、信号発生器1より、シールド線2に遷移信号を供給し、シールド線2を介してカウンタ3に到達するまで、半導体装置内の適当なクロックパルス数をカウンタ3で数えて、あらかじめ不揮発メモリ5に格納しておいた参照情報と比較し、一致しなければ不正検出信号S1を出す。不正検出信号S1に基づいて、半導体装置への不正な解析・情報の改竄を防止する動作モードへの移行切り替えを行う。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

半導体装置上の保護すべき領域を覆うように配線されかつ始点から終点に至る経路を1つのみ有する少なくとも1つのシールド線と、前記シールド線の始点に信号を与える信号発生器と、前記信号発生器によって前記シールド線の始点に信号が与えられるのに応答して時間の計測を開始し、当該信号が前記シールド線の終点に到達するのに応答して当該時間の計測を終了するカウンタと、前記カウンタによって計測された時間と基準値とを比較し、比較の結果に応じて不正検知信号を出力する比較器とを備える、ことを特徴とする保護回路。

IPC (3件)：

H01L21/822 , H01L27/04 , H04L9/10

FI (2件)：

H01L27/04 H , H04L9/00 621Z

Fターム (13件)：

5F038BH10 , 5F038CA05 , 5F038CA16 , 5F038CD05 , 5F038CD09 , 5F038DF01 , 5F038DF05 , 5F038DF10 , 5F038DF16 , 5F038EZ20 , 5J104AA46 , 5J104NA35 , 5J104NA42

引用特許：

出願人引用 (1件)

IC集積回路用保護回路
公報種別：公表公報出願番号：特願2000-581520 出願人：インフィネオンテクノロジースアクチエンゲゼルシャフト, シーメンスアクチエンゲゼルシヤフト

審査官引用 (8件)

半導体理論集積回路
公報種別：公開公報出願番号：特願平3-351926 出願人：茨城日本電気株式会社
特開昭58-209136
集積回路装置および校正方法
公報種別：公開公報出願番号：特願平11-322849 出願人：株式会社山武

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