特許
J-GLOBAL ID：200903085078365774
検査用治具
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
北村 秀明
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-256717
公開番号（公開出願番号）：特開2008-076268
出願日： 2006年09月22日
公開日（公表日）： 2008年04月03日
要約：
【課題】 接触子が対になって、各対の接触子の検査用端部が被検査基板の配線における同一の検査点に接触して検査用電流、電圧の授受に供される四端子測定用の検査冶具の提供。【解決手段】 一対の線状接触子の各一端が、被検査基板の配線パターン上の同一の検査点に接触され、検査用電流及び電圧の授受を行う四端子測定のための基板検査のための検査用治具において、複数の一対の接触子と、前記接触子の他端を、被検査基板を検査する検査装置と電気的に接続される検査用治具の電極部に案内するとともに、該接触子の他端毎に対応して設けられる電極部側案内孔を有する電極部側保持体と、前記接触子の一端を、前記検査点に案内するとともに、該一対の接触子毎に対応して設けられる検査点側案内孔を有する検査点側保持体とを有することを特徴とする。【選択図】 図2
請求項（抜粋）：
一対の線状接触子の各一端が、被検査基板の配線パターン上の同一の検査点に接触され、検査用電流及び電圧の授受を行う四端子測定のための基板検査のための検査用治具において、
複数の一対の接触子と、
前記接触子の他端を、被検査基板を検査する検査装置と電気的に接続される検査用治具の電極部に案内するとともに、該接触子の他端毎に対応して設けられる電極部側案内孔を有する電極部側保持体と、
前記接触子の一端を、前記検査点に案内するとともに、該一対の接触子毎に対応して設けられる検査点側案内孔を有する検査点側保持体とを有することを特徴とする検査用治具。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01R1/073 A
, G01R31/28 K
2G011AA09
, 2G011AA13
, 2G011AB06
, 2G011AB07
, 2G011AB08
, 2G011AC14
, 2G011AE01
, 2G011AF07
, 2G132AD01
, 2G132AF02
, 2G132AL03
出願人引用 (1件)
審査官引用 (5件)
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