特許
J-GLOBAL ID:200903086698703374
増強ナノ分光走査のための方法及び装置
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (4件):
浅村 皓
, 浅村 肇
, 池田 幸弘
, 長沼 暉夫
公報種別:公表公報
出願番号(国際出願番号):特願2007-535808
公開番号(公開出願番号):特表2008-516237
出願日: 2005年10月05日
公開日(公表日): 2008年05月15日
要約:
核酸中の塩基の配列などの、線状高分子サンプル中の化学基の配列を同定するための装置及び方法が開示される。装置は、プラズモン共鳴金属で作られている鏡面、光線の発光源、及び検出領域を定める開口部の周りに配置されている1つ又は複数のプラズモン共鳴粒子からなるレンズアセンブリを有する基板を有する。粒子は、光線が検出領域のサンプル上に当てられたときに、選択された間隔が40nm以下であるナノレンズと基板との間のギャップ内で、ナノレンズと基板表面上の直面する検出領域との間の空間内に近接場電磁ギャップモードを発生するように配列される。また、装置には、検出領域でサンプルにより放射された、又はそのサンプルから散乱された光を受け、受けた光をギャップモード増強ラマンスペクトルに変換する検出器、及びレンズアセンブリの開口部を通してレンズアセンブリに対してサンプルを移動し、サンプル内の連続する化学基を検出領域に位置決めするための平行移動メカニズムも含まれる。
請求項(抜粋):
核酸中の塩基の配列などの、線状高分子サンプル中の化学基の配列を同定するための装置であって、
プラズモン共鳴金属で作られる鏡面を有する基板、
光線の発生源、
検出領域を定める開口部の周りに配置され、光線が検出領域のサンプル上に当てられたときに、ナノレンズと40nm以下の選択された間隔を有する基板との間のギャップにおいて、前記ナノレンズと前記基板表面上の直面する検出領域との間の空間内に近接場電磁ギャップモードを発生するように配列された、1つ以上のプラズモン共鳴粒子からなるレンズアセンブリ、
前記検出領域で前記サンプルにより放射、又は散乱された光を受けるため、及び検出領域のサンプルのサンプル化学基を同定できるように、受けた光をギャップモード増強ラマンスペクトルに変換するための検出器及び
レンズアセンブリの前記開口部を通ってレンズアセンブリに対して前記サンプルを移動し、サンプル内の連続する化学基を検出領域に位置決めするための平行移動メカニズム、
を備える装置。
IPC (3件):
G01N 21/65
, G01N 33/50
, G01N 37/00
FI (3件):
G01N21/65
, G01N33/50 P
, G01N37/00 102
Fターム (34件):
2G043AA01
, 2G043BA16
, 2G043CA05
, 2G043CA09
, 2G043DA01
, 2G043DA02
, 2G043DA05
, 2G043DA06
, 2G043EA03
, 2G043EA04
, 2G043EA06
, 2G043FA01
, 2G043FA02
, 2G043FA03
, 2G043GA06
, 2G043GA07
, 2G043GB01
, 2G043GB12
, 2G043HA01
, 2G043HA02
, 2G043HA05
, 2G043HA09
, 2G043JA03
, 2G043JA04
, 2G043KA07
, 2G043KA08
, 2G043KA09
, 2G043LA03
, 2G045AA35
, 2G045DA13
, 2G045FA14
, 2G045GC11
, 2G045JA01
, 2G045JA07
引用特許:
引用文献:
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