特許
J-GLOBAL ID：200903088573927010

電子部品向き検査装置及び電子部品向き検査方法並びに電子部品装着機

発明者：
星川 和美

星川 和美 について

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鬼頭 秀一郎

鬼頭 秀一郎 について

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田代 雅幸

田代 雅幸 について

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福本 陵平

福本 陵平 について

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杉浦 聡

杉浦 聡 について


出願人/特許権者：
富士機械製造株式会社

富士機械製造株式会社 について


代理人 (1件)： 加古 宗男
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2007-246374
公開番号（公開出願番号）：特開2009-076796
出願日： 2007年09月24日
公開日（公表日）： 2009年04月09日
要約：
【課題】トレイ内の電子部品の向きの検査精度を向上させる検査技術を、低コストでトレイの段積み数を制限することなく実現できるようにする。【解決手段】トレイ型電子部品供給装置から電子部品実装機側に引き出されたパレット上に段積みされた最上段のトレイ内の電子部品を吸着ノズルで吸着する前に、最上段のトレイ内に配列収納された電子部品の上面をカメラで撮像する。画像処理対象エリアとして、電子部品の向きが正しい場合に電子部品の上面に描かれた文字等のマーク21が存在する第1のエリア22と、当該マーク21が存在しない第2のエリア23とを設定し、電子部品上面の撮像画像から各エリア22,23の平均輝度をそれぞれ演算して、2つのエリア22,23の明暗度を比較して明るい方のエリアと暗い方のエリアとの位置関係が決められた位置関係であるか否かで、電子部品の向きが正しい向きであるか否かを検査する。【選択図】図2
請求項（抜粋）：
トレイ内に配列収納された電子部品の上面を撮像するカメラと、 前記カメラで撮像した電子部品上面の画像を処理して当該電子部品の向きが正しい向きであるか否かを検査する検査手段とを備えた電子部品向き検査装置において、 前記検査手段は、画像処理対象エリアとして、前記電子部品の向きが正しい場合に該電子部品の上面に描かれた文字、記号、図柄等のマークが存在する第1のエリアと当該マークが存在しない第2のエリアとを設定し、各エリアの平均的な輝度又はこれに相関する情報(以下これらを「明暗度」と総称する)をそれぞれ演算し、2つのエリアの明暗度を比較して明るい方のエリアと暗い方のエリアとの位置関係が決められた位置関係であるか否かで該電子部品の向きが正しい向きであるか否かを検査することを特徴とする電子部品向き検査装置。
IPC (3件)：
H05K 13/08 ,  H05K 13/02 ,  G06T 1/00
FI (3件)：
H05K13/08 A ,  H05K13/02 D ,  G06T1/00 300
Fターム (21件)：
5B057AA02 ,  5B057BA02 ,  5B057DA07 ,  5B057DB02 ,  5B057DB09 ,  5B057DC08 ,  5B057DC22 ,  5B057DC36 ,  5E313AA02 ,  5E313AA11 ,  5E313AA23 ,  5E313CC03 ,  5E313CC04 ,  5E313DD02 ,  5E313DD03 ,  5E313DD23 ,  5E313EE02 ,  5E313EE24 ,  5E313EE33 ,  5E313FF32 ,  5E313FG10
引用特許：
出願人引用 (10件)
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審査官引用 (6件)
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