特許
J-GLOBAL ID：200903089097393393
磁気テープの欠陥検査装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
磯野 道造
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-375738
公開番号（公開出願番号）：特開2003-172708
出願日： 2001年12月10日
公開日（公表日）： 2003年06月20日
要約：
【要約】【課題】 非破壊検査により磁気テープの傷の検出に加えて異物の特定も可能な磁気テープの欠陥検査装置を提供することを課題とする。【解決手段】 磁気テープMTを光学的に検査し、磁気テープMTの欠陥を検出する磁気テープの欠陥検査装置1であって、磁気テープMTに光を投光する投光手段(投光部)10と、磁気テープMTで反射された光を受光する受光手段(ラインCCDカメラ)13,14,15と、予め求めておいた欠陥で反射された光の成分と受光手段13,14,15で受光した光の成分とに基づいて磁気テープMTの欠陥を検出する検出手段(パーソナルコンピュータ)16とを備えることを特徴とする。
請求項（抜粋）：
磁気テープを光学的に検査し、磁気テープの欠陥を検出する磁気テープの欠陥検査装置であって、前記磁気テープに光を投光する投光手段と、前記磁気テープで反射された光を受光する受光手段と、予め求めておいた欠陥で反射された光の成分と前記受光手段で受光した光の成分とに基づいて前記磁気テープの欠陥を検出する検出手段と、を備えることを特徴とする磁気テープの欠陥検査装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01N 21/892 A
, G11B 5/84 C
2G051AA32
, 2G051AA90
, 2G051AB01
, 2G051AB02
, 2G051BB01
, 2G051CA04
, 2G051CB05
, 2G051CC15
, 2G051EA12
, 2G051EA17
, 5D112JJ01
