特許
J-GLOBAL ID：200903089807870196

質量分析装置

発明者：
大和田 章

大和田 章 について

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安田 博幸

安田 博幸 について

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照井 康

照井 康 について


出願人/特許権者：
株式会社日立ハイテクノロジーズ

株式会社日立ハイテクノロジーズ について


代理人 (1件)： 井上 学
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2005-090442
公開番号（公開出願番号）：特開2006-275530
出願日： 2005年03月28日
公開日（公表日）： 2006年10月12日
要約：
【課題】 トラップTOF/MSでMSn 分析を行う際、トラップ部に許容量以上のイオンが導入されるとトラップ内でスペースチャージを引き起こし、マス軸がずれてしまい、正確なMSn 分析が行えなくなるという問題があった。【解決手段】 本測定開始前に簡易測定を行い、トラップ内に導入されるイオン(信号)量を測定し、その量によりトラップ部にイオン導入をする際に印加する補助交流電場の印加電圧および印加範囲を設定することにより上記課題を解決する。【効果】 装置内にトラップ部とTOFの2つの質量分析計を具備するハイブリット型のトラップTOF/MSにおいて、MSn 分析時の感度向上が実現する。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
測定試料をイオン化するイオン源と、イオンの蓄積,選択,開裂,排出が可能なイオントラップ部と、飛行時間質量分析計とを備えた質量分析装置において、 前記イオントラップ部において任意の質量範囲のイオンをトラップした後に、イオンの選択,開裂を行わずに前記飛行時間型分析計においてマススペクトルの取得を行い、 前記取得されたマススペクトルから分析すべきイオンを順次選定し、再度前記イオントラップ部において所定の分析を行い、前記飛行時間型質量分析計において質量分析を行うことを特徴とする質量分析装置。
IPC (3件)：
G01N 27/62 ,  H01J 49/40 ,  H01J 49/42
FI (4件)：
G01N27/62 K ,  G01N27/62 E ,  H01J49/40 ,  H01J49/42
Fターム (11件)：
2G041CA01 ,  2G041DA04 ,  2G041DA05 ,  2G041GA04 ,  2G041GA07 ,  2G041GA08 ,  2G041GA10 ,  2G041GA13 ,  2G041LA10 ,  5C038JJ06 ,  5C038JJ11
引用特許：
出願人引用 (4件)
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審査官引用 (8件)
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