特許
J-GLOBAL ID:200903091836434324

基板処理装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 大森 純一
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2000-346602
公開番号(公開出願番号):特開2002-151569
出願日: 2000年11月14日
公開日(公表日): 2002年05月24日
要約:
【要約】【課題】 フットプリントの極小化及び搬送時間の短縮化を図りつつ、膜質を良好に維持できる基板処理装置を提供すること。【解決手段】 ウエハWを加熱処理する加熱処理室151と、この加熱処理室151と連通され、少なくとも酸素濃度及び圧力の制御が可能なロードロック室152と、加熱処理室151とロードロック室152との間で基ウエハWを搬送する搬送アーム176と、加熱処理室151とロードロック室152との間を遮蔽可能なゲートバルブとを具備する。これにより良質な絶縁膜を形成することができる。また、ウエハWを他のユニットへ搬送させることなく、加熱処理室151に隣接したロードロック室152内で待機させることにより、ウエハWの搬送時間を短縮し、かつフットプリントを低減させることができる。
請求項(抜粋):
基板を加熱処理する加熱処理室と、前記処理室と連通され、少なくとも酸素濃度及び圧力の制御が可能なロードロック室と、前記加熱処理室と前記ロードロック室との間で基板を搬送する搬送アームと、前記加熱処理室と前記ロードロック室との間を遮蔽可能なゲートバルブとを具備することを特徴とする基板処理装置。
IPC (4件):
H01L 21/68 ,  B65G 49/07 ,  H01L 21/31 ,  H01L 21/316
FI (4件):
H01L 21/68 A ,  B65G 49/07 C ,  H01L 21/31 A ,  H01L 21/316 G
Fターム (29件):
5F031CA02 ,  5F031FA01 ,  5F031FA11 ,  5F031FA12 ,  5F031MA02 ,  5F031MA06 ,  5F031MA26 ,  5F031MA30 ,  5F031NA07 ,  5F031NA09 ,  5F045AB32 ,  5F045AF03 ,  5F045AF08 ,  5F045BB16 ,  5F045DC63 ,  5F045DP02 ,  5F045DQ10 ,  5F045HA24 ,  5F058BB07 ,  5F058BC02 ,  5F058BD04 ,  5F058BF46 ,  5F058BG01 ,  5F058BG02 ,  5F058BG03 ,  5F058BH02 ,  5F058BH03 ,  5F058BH04 ,  5F058BJ01
引用特許:
審査官引用 (7件)
  • 基板処理装置及び基板処理方法
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平10-224694   出願人:国際電気株式会社, 株式会社日立製作所
  • 処理装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平5-008516   出願人:東京エレクトロン東北株式会社
  • 加熱炉及びワークの加熱処理方法
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平10-115668   出願人:関西日本電気株式会社
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