特許
J-GLOBAL ID:200903093363708165
物理量計測装置およびその装置を用いて行う物理量校正方法
発明者:
,
,
出願人/特許権者:
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2004-043901
公開番号(公開出願番号):特開2005-233802
出願日: 2004年02月20日
公開日(公表日): 2005年09月02日
要約:
【課題】共焦点顕微鏡を適用し、マイクロリアクタの流路などにおける流体の濃度、温度、pH等の物理量を高精度、高速に2次元または3次元測定できる装置を提供する。【解決手段】ニポウディスク型のピンホールアレイを有する共焦点スキャナを用いた共焦点顕微鏡にレーザ誘起蛍光法を適応して、測定対象中の測定試料の物理量の2次元または3次元分布を測定することができるように構成する。【選択図】 図1
請求項(抜粋):
ニポウディスク型のピンホールアレイを有する共焦点スキャナを用いた共焦点顕微鏡にレーザ誘起蛍光法を適応して、測定対象中の測定試料の物理量の2次元または3次元分布を測定することができるように構成したことを特徴とする物理量計測装置。
IPC (9件):
G01N21/64
, G01K11/20
, G01L11/02
, G01N21/05
, G01N21/78
, G01N21/80
, G01N37/00
, G01P5/18
, G01P13/00
FI (10件):
G01N21/64 E
, G01N21/64 F
, G01K11/20
, G01N21/05
, G01N21/78 C
, G01N21/80
, G01N37/00 101
, G01P5/18 F
, G01P13/00 E
, G01L11/02
Fターム (40件):
2F034AA01
, 2F034AB03
, 2F034DA15
, 2F034DB14
, 2F055AA40
, 2F055BB20
, 2F055CC05
, 2F055DD20
, 2F055EE31
, 2F055FF49
, 2F055GG11
, 2F055GG49
, 2G043AA01
, 2G043AA06
, 2G043CA03
, 2G043DA02
, 2G043DA05
, 2G043EA01
, 2G043FA01
, 2G043FA02
, 2G043GA07
, 2G043GB19
, 2G043HA01
, 2G043HA09
, 2G043JA02
, 2G043KA09
, 2G043LA03
, 2G043NA05
, 2G043NA13
, 2G054CA03
, 2G054CA11
, 2G054EA03
, 2G054GA05
, 2G057AA04
, 2G057AB04
, 2G057AB07
, 2G057AC01
, 2G057BA05
, 2G057DC07
, 2G057EA06
引用特許:
出願人引用 (1件)
審査官引用 (14件)
-
蛍光画像計測装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2001-241863
出願人:横河電機株式会社
-
蛍光強度測定方法および装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2002-159178
出願人:アイダエンジニアリング株式会社
-
多光子顕微鏡
公報種別:公開公報
出願番号:特願平10-373723
出願人:大阪大学長
全件表示
引用文献:
前のページに戻る