特許
J-GLOBAL ID:200903094005386675

ADM光モジュール及び光通信線路の試験方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 志賀 正武 (外3名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-132007
公開番号(公開出願番号):特開2000-324065
出願日: 1999年05月12日
公開日(公表日): 2000年11月24日
要約:
【要約】【課題】 試験光の伝送を可能とし、中距離系や近距離系の高密度波長多重通信において、従来と同様の区間設定で光通信線路の試験を可能とする。【解決手段】 入力光SINのうち、通信光Ssとは異なる波長の試験光StをADM部10に対して迂回伝送する試験光迂回部11を備える。
請求項(抜粋):
入力光(SIN)のうち、通信光(Ss)とは異なる波長の試験光(St)をADM部(10)に対して迂回伝送する試験光迂回部(11)を備えることを特徴とするADM光モジュール。
IPC (2件):
H04B 17/02 ,  H04B 10/08
FI (2件):
H04B 17/02 ,  H04B 9/00 K
Fターム (25件):
5K002AA06 ,  5K002BA02 ,  5K002BA04 ,  5K002BA05 ,  5K002BA21 ,  5K002BA31 ,  5K002CA13 ,  5K002DA02 ,  5K002EA06 ,  5K002EA32 ,  5K002FA01 ,  5K002GA03 ,  5K042BA02 ,  5K042CA10 ,  5K042CA15 ,  5K042CA16 ,  5K042CA19 ,  5K042DA32 ,  5K042EA05 ,  5K042EA08 ,  5K042FA06 ,  5K042FA21 ,  5K042FA22 ,  5K042LA11 ,  5K042MA01
引用特許:
審査官引用 (8件)
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