特許
J-GLOBAL ID:200903095033121381
並列データ分析装置
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
井桁 貞一
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平10-209964
公開番号(公開出願番号):特開2000-040079
出願日: 1998年07月24日
公開日(公表日): 2000年02月08日
要約:
【要約】【課題】 本発明は並列計算機の処理を効率的に行い、データ分析の精度を向上させる並列データ分析装置を提供することを目的とする。【解決手段】 本発明の並列データ分析装置は?@分析精度を低下させるフィールドを除外する、?A分析精度を向上させるフィールドを追加する、?B関連度テーブルを用いる、?C散布図を作成する、?Dクラスタごとに分析を行う、?E最も精度が良い予測モデルを用いてクラス値を予測する、?F欠損値を補間し適用可能なアプリケーションの範囲を拡大する、?G指定時間内に処理できるフィールド数を求める、ことによって並列処理を効率的に行い、分析精度を向上させる。
請求項(抜粋):
複数のフィールドからなるデータを複数の処理装置に割り当てて並列に分析を行い、予測対象のフィールドの予測値を求める並列データ分析装置であって、各処理装置に共通に割り当てられる複数のフィールドであるベースフィールドの中から処理装置ごとに分析の対象にしない1以上のフィールドを選択するフィールド選択手段と、前記ベースフィールドに属するデータから、処理装置ごとに前記フィールド選択手段によって選択されたフィールドに属するデータを削除するフィールド削除手段と、前記ベースフィールドに属するデータと、前記削除後のデータとについて、処理装置ごとに分析し、予測モデルを作成するデータ分析手段と、前記予測モデルに基づいて予測対象のフィールドのデータを予測するデータ予測手段と、前記予測結果を比較し、最も分析精度が良い予測モデルを用いて予測値とする予測モデル選択手段と、を有することを特徴とする並列データ分析装置。
IPC (3件):
G06F 17/00
, G06F 15/16 620
, G06F 15/18 560
FI (3件):
G06F 15/20 F
, G06F 15/16 620 Z
, G06F 15/18 560 A
Fターム (12件):
5B045AA00
, 5B045AA03
, 5B045DD18
, 5B045GG11
, 5B049AA00
, 5B049AA06
, 5B049BB11
, 5B049BB21
, 5B049CC00
, 5B049EE04
, 5B049EE05
, 5B049FF03
引用特許:
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