特許
J-GLOBAL ID：200903095223620449

三次元変位計測方法

発明者：
名村 均

名村 均 について

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白坂 紀彦

白坂 紀彦 について

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高屋 英永

高屋 英永 について


出願人/特許権者：
株式会社演算工房

株式会社演算工房 について


代理人 (1件)： 和泉 久志
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2005-364239
公開番号（公開出願番号）：特開2007-170820
出願日： 2005年12月19日
公開日（公表日）： 2007年07月05日
要約：
【課題】変位前後の計測で三次元点群データを取得することにより、多数の計測点の変位を簡易かつ省力的に測定する。【解決手段】三次元点群データを取得する第1ステップと、測定対象物に変位計測面3を定義するとともに、この変位計測面3上に三次元計測基準座標系A'を定義する第2ステップと、変位を計測したい方向ベクトルνを定義し、前記三次元計測基準座標系A'のZ’軸を前記方向ベクトルに一致させるように三次元変位計測座標系A"を設定し、前記三次元点群データを前記三次元変位計測座標系A"に変換する第3ステップと、前記三次元変位計測座標系A"において、X"-Y"面にメッシュを設定し、各メッシュ毎に区画内に点在するZ”座標の平均値を算出する第4ステップからなる測量を変位前後で行い、変位前後のZ”座標平均値の差分を変位量とする。【選択図】図10
請求項（抜粋）：
三次元計測機器により測定対象物の測量座標系(X、Y、Z)における三次元点群データを取得する第1ステップと、 測定対象物において変位計測面を定義するとともに、この変位計測面上にX’座標及びY’座標をもつ三次元計測基準座標系(X'、Y'、Z')を定義する第2ステップと、 前記三次元計測基準座標系(X'、Y'、Z')において、変位を計測したい方向ベクトルを設定し、前記三次元計測基準座標系(X'、Y'、Z')のZ’軸を前記方向ベクトルに一致させるようにX’軸及びY’軸回りに回転させた三次元変位計測座標系(X"、Y"、Z")を定義し、前記測量座標系(X、Y、Z)における三次元点群データを前記三次元変位計測座標系(X"、Y"、Z")に変換する第3ステップと、 前記三次元変位計測座標系(X"、Y"、Z")において、X"-Y"面に任意の形状及び間隔で区画割りを設定し、各区画毎に区画内に点在するZ”座標平均値を算出するとともに、この平均値をZ”座標初期値として設定する第4ステップと、 変位計測時に、上記第1ステップから第4ステップまでの測量を再度行い、得られた各区画毎のZ”座標平均値と、前記Z”座標初期値との差分を変位量とする第5ステップとからなることを特徴とする三次元変位計測方法。
IPC (2件)：
G01C 15/00 ,  G01C 7/02
FI (3件)：
G01C15/00 101 ,  G01C15/00 103A ,  G01C7/02
引用特許：
出願人引用 (3件) 審査官引用 (4件)
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