特許
J-GLOBAL ID：200903096506878821

スキャナ装置のキャリブレーション方法

発明者：
脇迫 仁

脇迫 仁 について

, 
白石 一成

白石 一成 について


出願人/特許権者：
株式会社安川電機

株式会社安川電機 について


公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-286710
公開番号（公開出願番号）：特開2005-055311
出願日： 2003年08月05日
公開日（公表日）： 2005年03月03日
要約：
【課題】 対象物の形状を計測するスキャナ装置において、加工誤差、組み立て誤差等が発生すると座標計算に用いるパラメータに誤差を生じ、スキャナの計測精度に影響を及ぼす。本発明では、これらのパラメータを同定するキャリブレーション方法を提供する。【解決手段】 形状が既知である対象物を計測し、その計測点の座標位置を計算し、それを基に対象物の形状に近似したときの偏差が最小となるように、座標計算で用いるパラメータを修正してゆく。対象物として壁などの平面形状を用いると実施が容易となる。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
対象物に光を照射し、前記対象物からの反射光を検出してその伝搬時間から前記対象物までの距離を計測する距離センサと、前記距離センサの照射する光の進路上に設置され2軸以上の軸まわりに回転して前記光の進行方向を変更する回転ミラーとを備えたスキャナ装置のキャリブレーション方法において、 形状が既知である対象物に対してスキャンを行い、その際の前記距離センサの計測距離と、前記回転ミラーによる光の照射角度とから前記対象物上の3点以上について計測を行って座標位置を計算し、前記3点以上の計測点を含む面を前記対象物の形状に近似して、前記対象物の形状との偏差を算出し、前記偏差が最小となるように、前記計測点の座標位置の計算に用いるパラメータを同定することを特徴とするスキャナ装置のキャリブレーション方法。
IPC (2件)：
G01B11/24 ,  G01S17/42
FI (2件)：
G01B11/24 A ,  G01S17/42
Fターム (20件)：
2F065AA01 ,  2F065AA04 ,  2F065AA06 ,  2F065AA51 ,  2F065BB01 ,  2F065BB07 ,  2F065FF31 ,  2F065GG04 ,  2F065LL13 ,  2F065QQ17 ,  2F065QQ25 ,  2F065QQ29 ,  2F065QQ38 ,  5J084AA04 ,  5J084AA13 ,  5J084AD01 ,  5J084BA11 ,  5J084BA48 ,  5J084BB28 ,  5J084EA08
引用特許：
出願人引用 (1件) 審査官引用 (4件)
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