特許
J-GLOBAL ID:200903096580009061

有機ILD(インターレベル誘電体)内のバイア抵抗シフトを除去する方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (3件): 坂口 博 ,  市位 嘉宏 ,  上野 剛史
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2003-124691
公開番号(公開出願番号):特開2004-006852
出願日: 2003年04月30日
公開日(公表日): 2004年01月08日
要約:
【課題】低誘電率k有機ILD素材を使用している、サブミクロンの半導体集積回路中の、ライナー/銅(Cu層)の下部の界面で、しばしば発生する、バイア抵抗を低減すること。【解決手段】上部層30に接着触媒を適用し、その上に有機インターレベル誘電体を付着する前に薄膜接着触媒を酸化して薄い2酸化シリコン状薄膜50とすることによって、マルチレベルの金属および有機インターレベル誘電体を具体化する半導体ウェハーの熱サイクル中のバイア抵抗問題を低減する。【選択図】 図3
請求項(抜粋):
ダマシンプロセスまたはデュアルダマシンプロセスにおいて、有機インターレベル誘電体内のバイア抵抗シフトを防ぐための方法であって、 前もって形成されたキャップ層に、接着触媒層でコーティングするステップと、 前記接着触媒層を酸化し、前記キャップ層上に2酸化シリコン状薄膜層を形成するステップと、 前記2酸化シリコン状薄膜層に、有機インターレベル誘電体のコーティングを適用するステップと を含む方法。
IPC (2件):
H01L21/3205 ,  H01L21/316
FI (2件):
H01L21/88 B ,  H01L21/316 A
Fターム (32件):
5F033HH11 ,  5F033JJ11 ,  5F033MM01 ,  5F033MM02 ,  5F033PP15 ,  5F033PP27 ,  5F033PP28 ,  5F033PP33 ,  5F033QQ48 ,  5F033QQ89 ,  5F033RR06 ,  5F033RR21 ,  5F033RR25 ,  5F033RR29 ,  5F033SS15 ,  5F033SS22 ,  5F033TT02 ,  5F033WW00 ,  5F033WW02 ,  5F033WW03 ,  5F033WW05 ,  5F033WW06 ,  5F033WW07 ,  5F033XX14 ,  5F033XX24 ,  5F033XX28 ,  5F058BA10 ,  5F058BB06 ,  5F058BC02 ,  5F058BE10 ,  5F058BF73 ,  5F058BJ02
引用特許:
出願人引用 (7件)
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審査官引用 (8件)
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