特許
J-GLOBAL ID:200903097999096335
多データ状態メモリセル
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (6件):
杉村 興作
, 高見 和明
, 徳永 博
, 藤谷 史朗
, 来間 清志
, 冨田 和幸
公報種別:公表公報
出願番号(国際出願番号):特願2003-572035
公開番号(公開出願番号):特表2005-518671
出願日: 2003年02月05日
公開日(公表日): 2005年06月23日
要約:
第1導電材料から形成された第1電極層と、第2導電材料から形成された第2電極層と、前記第1電極層と前記第2電極層の間に配置された金属ドープカルコゲニド材料の第1層とを含むプログラム可能多データ状態メモリセル。前記第1層は、導電性成長が形成されて前記第1及び第2電極層に共に電気的に結合することができる媒体を与える。前記メモリセルは、第3導電材料から形成された第3電極層と、前記第2電極層と前記第3電極層の間に配置された金属ドープカルコゲニド材料の第2層とをさらに含み、前記第2層は、導電性成長が形成されて前記第2及び第3電極層に共に電気的に結合することができる媒体を与える。
請求項(抜粋):
多状態メモリセルにおいて、
第1導電材料から形成された第1電極層と、
第2導電材料から形成された第2電極層と、
導電性成長が形成されて前記第1及び第2電極層に共に電気的に結合することができる媒体を与える、前記第1電極層と前記第2電極層との間に配置された金属ドープカルコゲニド材料の第1層と、
第3導電材料から形成された第3電極層と、
導電性成長が形成されて前記第2及び第3電極層に共に電気的に結合することができる媒体を与える、前記第2電極層と前記第3電極層との間に配置された金属ドープカルコゲニド材料の第2層とを具えることを特徴とする多状態メモリセル。
IPC (2件):
FI (2件):
H01L27/10 448
, H01L45/00 A
Fターム (3件):
5F083FZ10
, 5F083GA09
, 5F083ZA21
引用特許:
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