質量分析に関する改良

発明者： , , , ,
出願人/特許権者：
代理人 (2件)：吉田研二 , 石田純
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2008-503578
公開番号（公開出願番号）：特表2008-535168
出願日： 2006年03月29日
公開日（公表日）： 2008年08月28日
要約：

本発明は反応セルを含む質量分析計およびそのような質量分析計を使用する方法に関する。特に、限定はしないが、本発明は、タンデム質量分析計およびタンデム質量分析に関する。本発明は、イオンを、質量分析計の長軸に沿って順方向に移動し、中間イオン貯蔵部を通過し、その後に反応セルに入るように誘導し、イオンを反応セル内で処理し、処理イオンを、長軸に沿って戻し、中間イオン貯蔵部にもう一度入るように放出し、処理イオンの1つまたは複数のパルスを軸外方向で質量アナライザまで放出する工程を含む、長軸を有する質量計を使用する質量分析法を提供する。

請求項（抜粋）：

(a)イオン源においてイオンを発生させる工程と、 (b)イオンが前記イオン源に対し順方向で質量分析計の長軸に沿って移動するように、イオンを抽出する工程と、 (c)前記イオンが順方向で長軸に沿って進行する時に、前記イオンが中間イオン貯蔵部に入り、その後に出て行くようにする工程と、 (d)前記イオンが順方向で前記長軸に沿って進行する時に、前記イオンが反応セルに入るようにする工程と、 (e)前記反応セル内で前記イオンを処理する工程と、 (f)処理イオンを、前記反応セルから出て行かせ、前記イオン源に対し逆方向で前記長軸に沿って戻るようにする工程と、 (g)前記処理イオンを、逆方向で前記長軸に沿って進行する時に、もう一度前記中間イオン貯蔵部に入るようにする工程と、 (h)前記処理イオンの1つまたは複数のパルスを、前記中間イオン貯蔵部から軸外方向に出て行かせる工程と、 (i)前記処理イオンの1つまたは複数のパルスを質量アナライザに入るようにする工程と、 (j)前記質量アナライザを用いて前記処理イオンの1つまたは複数のパルスの質量スペクトルを獲得する工程と、の連続工程を含む、長軸を有する質量分析計を使用する質量分析法。

IPC (3件)：

H01J 49/42 , G01N 27/62 , H01J 49/06

FI (4件)：

H01J49/42 , G01N27/62 G , G01N27/62 E , H01J49/06

Fターム (22件)：

2G041DA02 , 2G041DA04 , 2G041DA05 , 2G041DA09 , 2G041DA13 , 2G041DA16 , 2G041DA18 , 2G041FA21 , 2G041GA03 , 2G041GA05 , 2G041GA06 , 2G041GA08 , 2G041GA09 , 2G041GA13 , 2G041GA21 , 2G041GA24 , 2G041GA29 , 2G041GA30 , 2G041KA01 , 5C038FF10 , 5C038FF13 , 5C038JJ05

引用特許：

出願人引用 (5件)

国際公開第03/105183号パンフレット
国際公開第02/078048号パンフレット
国際公開第03/102545号パンフレット

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審査官引用 (8件)

多極イオン案内を有する質量分析法
公報種別：公表公報出願番号：特願2000-551420 出願人：アナリティカオブブランフォードインコーポレーテッド
飛行時間型質量分析計
公報種別：公開公報出願番号：特願2003-075151 出願人：日本電子株式会社
電子捕獲解離反応装置及び電子捕獲解離を備えた質量分析装置
公報種別：公開公報出願番号：特願2005-160861 出願人：株式会社日立ハイテクノロジーズ

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