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J-GLOBAL ID:201002276571670648   整理番号:10A0253069

階段傾斜SiGe(100)層上に成長させたSiの光学異方性

Optical anisotropies of Si grown on step-graded SiGe(110) layers
著者 (11件):
資料名:
巻: 96  号:ページ: 091904  発行年: 2010年03月01日 
JST資料番号: H0613A  ISSN: 0003-6951  CODEN: APPLAB  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 短報  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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マクロ反射率とミクロ反射率の差分分光法を用いて,階段傾斜SiGe仮想基板上に堆積させた歪Si(110)薄膜からなる半導体構造の歪誘起光学異方性を測定した。応力緩和機構はミクロ双晶形成の導入で主に生じ,その揺らぎは成長条件に強く依存した。X線回折測定と原子間力顕微鏡画像とこの光学的診断の相関から,上部Si層と下部SiGe層の歪を空間分解能≦5μmでその場で調べられる。(翻訳著者抄録)
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分類 (1件):
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光物性一般 
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