形状良否判定方法及び形状良否判定装置

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：宮園純一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2008-184145
公開番号（公開出願番号）：特開2010-025586
出願日： 2008年07月15日
公開日（公表日）： 2010年02月04日
要約：

【課題】長手方向に沿って延長する標識線を有する被測定物の幅方向断面における標識線の位置を確実に検出して被測定物の形状の良否判定の精度を向上させる。【解決手段】上部側カメラ12により撮影したトレッド2の表面側のカメラ像から作成した上形状画像から、当該トレッド2の両端部2c,2dの位置を検出し、この両端部2c,2dの位置からトレッド2のセンター位置を算出し、上記上形状画像の上記センター位置近傍の画素データから標識線2zの位置を検出することにより、上記上部側カメラ12により撮影したトレッド2の上形状画像と下部側カメラ14により撮影したトレッド2の裏面側のカメラ像から作成した下形状画像との合成画像に、正確な標識線2zの位置を示す標識線表示Zを付加した検査画像Gを作成することができるようにした。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

幅方向中心もしくは幅方向中心から所定距離だけ幅方向端部側に離れた位置に設けられた被測定物の長手方向に延長する標識線が形成された被測定物に、当該被測定物の幅方向に延びるスリット光を照射して上記被測定物のスリット像を撮影し、上記被測定物の断面形状を測定するとともに上記標識線の位置を検出し、上記測定された被測定物の断面形状と予め作成しておいた上記被測定物の基準画像とを、上記検出された標識線の位置を上記基準画像中の標識線の位置に一致させた状態で比較して、当該被測定物の形状の良否を判定する形状良否判定方法において、上記標識線の位置を、上記スリット像の両端部の位置情報を用いて検出することを特徴とする標識線を有する被測定物の形状良否判定方法。

IPC (3件)：

G01N 21/892 , B29D 30/00 , G01B 11/25

FI (3件)：

G01N21/892 Z , B29D30/00 , G01B11/25 H

Fターム (30件)：

2F065AA52 , 2F065AA61 , 2F065BB15 , 2F065BB27 , 2F065CC13 , 2F065DD06 , 2F065FF02 , 2F065FF05 , 2F065FF41 , 2F065HH04 , 2F065JJ03 , 2F065JJ05 , 2G051AA32 , 2G051AA90 , 2G051AB05 , 2G051AB07 , 2G051BA10 , 2G051BB02 , 2G051BB03 , 2G051BC06 , 2G051CA04 , 2G051CA08 , 2G051CB01 , 2G051CB05 , 2G051EA12 , 2G051EB09 , 4F212AH20 , 4F212AP12 , 4F212VQ04 , 4F212VQ07

引用特許：

出願人引用 (11件)

特開昭63-108207号公報
特公平5-56801号公報
被検体の外観・形状検査方法とその装置、及び、被検体の外観・形状検出装置
公報種別：公開公報出願番号：特願2002-044449 出願人：株式会社ブリヂストン

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